[发明专利]X射线成像装置和测量方法无效
| 申请号： | 201110209888.6 | 申请日： | 2011-07-26 |
| 公开（公告）号： | CN102342840A | 公开（公告）日： | 2012-02-08 |
| 发明（设计）人： | 土谷佳司 | 申请（专利权）人： | 佳能株式会社 |
| 主分类号： | A61B6/00 | 分类号： | A61B6/00 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人： | 杜娟 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明涉及X射线成像装置和测量方法。一种获得X射线图像的X射线成像装置，该装置包括：成像单元，包括适于将由根据操作指令输出或停止X射线的X射线成像装置产生的X射线转换成图像信号的多个检测元件；和获得单元，适于基于从成像单元输出的图像信号获得X射线产生装置的操作开始定时并且获得对于X射线产生装置的操作指令的定时与操作开始定时之间的差值。 | ||
| 搜索关键词： | 射线 成像 装置 测量方法 | ||
【主权项】：
一种获得X射线图像的X射线成像装置，该装置包括：成像单元，包括多个检测元件，所述多个检测元件适于将由根据操作指令输出或停止X射线的X射线产生装置产生的X射线转换成图像信号；和获得单元，适于基于从所述成像单元输出的图像信号获得X射线产生装置的操作开始定时并且获得对于X射线产生装置的操作指令的定时与所述操作开始定时之间的差值。
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