[发明专利]量测坐标校正系统及方法有效

专利信息
申请号: 201110211969.X 申请日: 2011-07-27
公开(公告)号: CN102901473A 公开(公告)日: 2013-01-30
发明(设计)人: 张旨光;佘正才;袁忠奎;蒋理;徐玉华 申请(专利权)人: 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司
主分类号: G01B21/00 分类号: G01B21/00;G01B7/004;G01B11/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 518109 广东省深圳市*** 国省代码: 广东;44
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 一种量测坐标校正系统及方法,该系统用于:接收探针量测系统的探针上的探头在校正物体上选择的一个参考点;根据探头侦测到的该参考点的坐标,计算该校正物体的第一标准中心坐标;当影像量测系统的镜头移动到该校正物体的上方位置时,利用影像边界扫描方法获取该校正物体的第二标准中心坐标;计算该第一标准中心坐标与第二标准中心坐标之间的差值,作为探针量测系统与影像量测系统之间的校正值;存储该校正值至该电子设备的存储器中。利用本发明可以自动对探针量测系统获取的坐标进行校正。
搜索关键词: 坐标 校正 系统 方法
【主权项】:
一种量测坐标校正系统,其特征在于,该系统包括:数据接收模块,用于接收探针量测系统的探针上的探头在校正物体上选择的一个参考点,该探针量测系统安装于量测机台,该量测机台与电子设备相连;第一获取模块,用于根据探头侦测到的该参考点的坐标(x,y,z),计算该校正物体的第一标准中心坐标(x2,y2,z2);第二获取模块,用于当影像量测系统的镜头移动到该校正物体的上方位置时,利用影像边界扫描方法获取该校正物体的第二标准中心坐标(x3,y3,z3),该影像量测系统安装于该量测机台;计算模块,用于计算该第一标准中心坐标与第二标准中心坐标之间的差值,该计算出的差值作为探针量测系统与影像量测系统之间的校正值;及存储模块,用于存储该校正值至该电子设备的存储器中。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司,未经鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201110211969.X/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top