[发明专利]量测坐标校正系统及方法有效
申请号: | 201110211969.X | 申请日: | 2011-07-27 |
公开(公告)号: | CN102901473A | 公开(公告)日: | 2013-01-30 |
发明(设计)人: | 张旨光;佘正才;袁忠奎;蒋理;徐玉华 | 申请(专利权)人: | 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司 |
主分类号: | G01B21/00 | 分类号: | G01B21/00;G01B7/004;G01B11/00 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 518109 广东省深圳市*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 一种量测坐标校正系统及方法,该系统用于:接收探针量测系统的探针上的探头在校正物体上选择的一个参考点;根据探头侦测到的该参考点的坐标,计算该校正物体的第一标准中心坐标;当影像量测系统的镜头移动到该校正物体的上方位置时,利用影像边界扫描方法获取该校正物体的第二标准中心坐标;计算该第一标准中心坐标与第二标准中心坐标之间的差值,作为探针量测系统与影像量测系统之间的校正值;存储该校正值至该电子设备的存储器中。利用本发明可以自动对探针量测系统获取的坐标进行校正。 | ||
搜索关键词: | 坐标 校正 系统 方法 | ||
【主权项】:
一种量测坐标校正系统,其特征在于,该系统包括:数据接收模块,用于接收探针量测系统的探针上的探头在校正物体上选择的一个参考点,该探针量测系统安装于量测机台,该量测机台与电子设备相连;第一获取模块,用于根据探头侦测到的该参考点的坐标(x,y,z),计算该校正物体的第一标准中心坐标(x2,y2,z2);第二获取模块,用于当影像量测系统的镜头移动到该校正物体的上方位置时,利用影像边界扫描方法获取该校正物体的第二标准中心坐标(x3,y3,z3),该影像量测系统安装于该量测机台;计算模块,用于计算该第一标准中心坐标与第二标准中心坐标之间的差值,该计算出的差值作为探针量测系统与影像量测系统之间的校正值;及存储模块,用于存储该校正值至该电子设备的存储器中。
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