[发明专利]最小输出压降的二分步扫描测试方法有效
| 申请号： | 201110213818.8 | 申请日： | 2011-07-29 |
| 公开（公告）号： | CN102313866A | 公开（公告）日： | 2012-01-11 |
| 发明（设计）人： | 何锦文;罗径华 | 申请（专利权）人： | 杰群电子科技（东莞）有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 东莞市华南专利商标事务所有限公司 44215 | 代理人： | 雷利平 |
| 地址： | 523750 广东省东莞市黄江镇裕元工*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了最小输出压降的二分步扫描测试方法，其技术方案包括：步骤一，以第一步长在半导体产品参数范围内进行初步扫描，寻找状态触发点的输出电压A；其中，所述状态触发点的输出电压A为半导体产品实际输出电压的98％；步骤二，将半导体产品参数范围锁定在以Ａ±（N*第一步长）的小区间内；其中，N为测试安全系数；步骤三，以第二步长在所述步骤二中锁定的小区间内，依次开始扫描，获得所需的半导体产品的最小输出压降，完成扫描。与现有技术的直线扫描相比，半导体产品的最小输出压降Vdrop项的测试时间由直线扫描的60ms缩短至8ms，由于减少了测试时间的花费，使得测试产出得到提升，同时还显著降低了产品测试环节的成本。 | ||
| 搜索关键词： | 最小 输出 分步 扫描 测试 方法 | ||
【主权项】：
最小输出压降的二分步扫描测试方法，其特征在于，包括有以下步骤：步骤一，以第一步长在半导体产品参数范围内进行初步扫描，寻找状态触发点的输出电压A；其中，所述状态触发点的输出电压A为半导体产品实际输出电压的98％； 步骤二，将半导体产品参数范围锁定在以Ａ±（N*第一步长）的小区间内；其中，N为测试安全系数； 步骤三，以第二步长在所述步骤二中锁定的小区间内，依次开始扫描，获得所需的半导体产品的最小输出压降，完成扫描。
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