[发明专利]制造薄膜晶体管阵列面板的方法及减少杂质缺陷的方法有效

专利信息
申请号: 201110217498.3 申请日: 2011-08-01
公开(公告)号: CN102347274A 公开(公告)日: 2012-02-08
发明(设计)人: 杨东周;丁有光;宋溱镐;李基晔;崔新逸;金泰佑 申请(专利权)人: 三星电子株式会社
主分类号: H01L21/77 分类号: H01L21/77;H01L21/3213;H01L21/321;H01L21/768
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 李昕巍
地址: 韩国*** 国省代码: 韩国;KR
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明涉及制造薄膜晶体管阵列面板的方法及减少杂质缺陷的方法。一种制造薄膜晶体管阵列面板的方法包括:形成栅线;在栅线上形成绝缘层;形成第一硅层、第二硅层、第一金属层和第二金属层;形成具有第一部分和第二部分的光致抗蚀剂图案;通过蚀刻第一金属层和第二金属层来形成第一金属图案和第二金属图案;用SF6或SF6/He处理第一金属图案;通过蚀刻第二硅层和第一硅层来形成硅图案和半导体图案;去除光致抗蚀剂图案的第一部分;通过湿蚀刻第二金属图案来形成数据配线的上层;通过蚀刻第一金属图案和硅图案来形成数据配线的下层和欧姆接触;在上层上形成包括接触孔的钝化层;及在钝化层上形成像素电极。
搜索关键词: 制造 薄膜晶体管 阵列 面板 方法 减少 杂质 缺陷
【主权项】:
一种制造薄膜晶体管阵列面板的方法,该方法包括:在基板上形成包括栅电极的栅线;在所述栅线上形成栅绝缘层;在所述栅绝缘层上形成第一非晶硅层、第二非晶硅层、第一金属层和第二金属层;在所述第二金属层上形成具有第一部分和第二部分的光致抗蚀剂图案,所述第二部分的厚度大于所述第一部分的厚度;通过利用所述光致抗蚀剂图案作为掩模分别蚀刻所述第二金属层和所述第一金属层,形成第二金属图案和第一金属图案;用SF6或包括SF6和He的气体混合物预处理所述第二金属图案;通过利用所述光致抗蚀剂图案作为掩模分别蚀刻所述第二非晶硅层和所述第一非晶硅层,形成非晶硅图案和半导体图案;去除所述光致抗蚀剂图案的所述第一部分;通过利用所述第二部分作为掩模湿蚀刻所述第二金属图案,形成数据配线的上层;通过利用所述第二部分作为掩模蚀刻所述第一金属图案和所述非晶硅图案,分别形成所述数据配线的下层和欧姆接触;在去除所述第二部分之后,在所述上层上形成包括接触孔的钝化层;和在所述钝化层上形成像素电极,所述像素电极通过所述接触孔连接到所述上层。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于三星电子株式会社,未经三星电子株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201110217498.3/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top