[发明专利]微影过程中临界尺寸的测试标记有效

专利信息
申请号: 201110218125.8 申请日: 2011-08-01
公开(公告)号: CN102280438A 公开(公告)日: 2011-12-14
发明(设计)人: 岳力挽;赵新民;周孟兴;鲍晔;王彩虹 申请(专利权)人: 上海宏力半导体制造有限公司
主分类号: H01L23/544 分类号: H01L23/544;G03F7/00
代理公司: 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 代理人: 郑玮
地址: 201203 上海市浦*** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明涉及一种微影过程中临界尺寸的测试标记,包括依次连接并形成一矩形方框的第一、第二、第三、第四标记棒,用于测试独立线临界尺寸;相邻两个标记棒形成的直角区域用于测试图案的直角圆形化情况;方框内包括第一、第二、第三组测试棒,第一、第二、第三组测试棒与第一标记棒平行,第二、第三组测试棒包括第一部分和第二部分;第一组测试棒与第二、第三组测试棒的第一部分形成密集线测试棒;第二、第三组测试棒的第二部分形成半密集线测试棒;第三组测试棒的末端邻近所述第二标记棒,用于测试图案的线端或者间隙端。本发明的测试标记包含的图案信息多,结构简单,占用面积小,成本低。
搜索关键词: 过程 临界 尺寸 测试 标记
【主权项】:
一种微影过程中临界尺寸的测试标记,其特征在于,包括:第一标记棒、第二标记棒、第三标记棒、第四标记棒,所述第一、第二、第三、第四标记棒依次连接形成一矩形方框,所述第一、第二、第三、第四标记棒用于测试独立线临界尺寸;形成于所述方框内且依次设置的第一、第二、第三、第四、第五、第六、第七测试棒,所述第一、第二、第三、第四、第五、第六、第七测试棒包括相互垂直的第一边和第二边,所述第一、第二、第三、第四、第五、第六、第七测试棒的第一边与所述第一标记棒平行,所述第二、第四、第六测试棒的第一边包括第一部分和第二部分,所述第一、第三、第五、第七测试棒的第一边与所述第二、第四、第六测试棒的第一边的第一部分形成密集线测试棒,用于测试密集线或者密集间隙的临界尺寸,所述第二、第四、第六测试棒的第一边的第二部分形成半密集线测试棒,用于测试半密集线或者半密集间隙的临界尺寸,所述第四测试棒的第一边的末端邻近所述第二标记棒,用于测试图案的线端或者间隙端。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海宏力半导体制造有限公司,未经上海宏力半导体制造有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201110218125.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top