[发明专利]新型IC封装制造工艺无效

专利信息
申请号: 201110225535.5 申请日: 2011-08-08
公开(公告)号: CN102290354A 公开(公告)日: 2011-12-21
发明(设计)人: 陈胜华 申请(专利权)人: 慈溪市永旭丰泰电子科技有限公司
主分类号: H01L21/50 分类号: H01L21/50;H01L21/60;H01L21/56
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 315300 *** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 一种新型的IC封装制造工艺,包括底片制造工艺、盖板制造工艺以及底片和盖板的封装工艺,其中底片制造工艺包括底片制作;开料;钻孔;沉铜;加厚铜;图形转移;图形电镀;退膜;半孔加工;蚀刻;退锡;阻焊;化金;盖板制造工艺包括盖板备料;盖板开料;背胶;机加工;清洗;底片和盖板的封装工艺包括压合;烘烤;清洗;终检。本发明的有益效果在于:制造出来的线条精度高,蚀刻后无残铜且线条光滑,盖板不变形,无严重溢胶,盖板与主板的结合力达到10KG以上,机械加工后基板无分层,半孔无毛刺,外形边缘整齐,无粉尘。
搜索关键词: 新型 ic 封装 制造 工艺
【主权项】:
一种新型IC封装制造工艺,其特征在于:包括依次进行的底片制造工艺、盖板制造工艺以及底片和盖板的封装工艺,所述的底片制造工艺包括:步骤1.1,底片制作;步骤1.2,开料;步骤1.3,钻孔,即在底片上冲钻基准孔;步骤1.4,沉铜,即在底片的基材表面和基准孔上沉上一层化学薄铜;步骤1.5,加厚铜,即再一次沉铜,以使铜层厚度增加;步骤1.6,图形转移;步骤1.7,图形电镀;步骤1.8,退膜,步骤1.9,半孔加工;步骤1.10,蚀刻;步骤1.11,退锡;步骤1.12,阻焊;步骤1.13,化金,完成底片的制作;所述的盖板制造工艺包括:步骤2.1,盖板备料;步骤2.2,盖板开料;步骤2.3,背胶;步骤2.4,机加工;步骤2.5,清洗,完成盖板的制作;所述的底片和盖板的封装工艺包括:步骤3.1,压合;步骤3.2,烘烤; 步骤3.3,清洗,完成封装工艺。
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