[发明专利]气体中杂质的去除装置及维护方法有效

专利信息
申请号: 201110226195.8 申请日: 2011-08-05
公开(公告)号: CN102410944A 公开(公告)日: 2012-04-11
发明(设计)人: 陈生龙;林德宝;郭键平;俞大海 申请(专利权)人: 聚光科技(杭州)股份有限公司
主分类号: G01N1/22 分类号: G01N1/22;G01N1/34
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 310052 浙*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明提供了气体中杂质的去除装置,包括壳体、进气口和出气口;所述去除装置进一步包括:颗粒物,所述颗粒物积聚在一起,用于截留气体中携带的杂质;两层阻挡部件,所述阻挡部件上具有通孔,用于通过气体而阻挡所述颗粒物穿过;所述颗粒物处于所述两层阻挡部件之间,积聚在一起的颗粒物的上表面与上层阻挡部件的距离大于零;腔体,所述腔体处于积聚在一起的颗粒物的内部,具有用于通过气体而阻挡所述颗粒物穿过的通孔。本发明具有测量准确度高、方便维护、成本低等优点。
搜索关键词: 气体 杂质 去除 装置 维护 方法
【主权项】:
气体中杂质的去除装置,包括壳体、进气口和出气口,以及设置在所述进气口上游的第一开关模块、设置在所述出气口下游的第二开关模块;其特征在于:所述去除装置进一步包括:颗粒物,所述颗粒物积聚在一起,用于截留气体中携带的杂质;两层阻挡部件,所述阻挡部件上具有通孔,用于通过气体而阻挡所述颗粒物穿过;所述颗粒物处于所述两层阻挡部件之间,积聚在一起的颗粒物的上表面与上层阻挡部件的距离大于零;腔体,所述腔体处于积聚在一起的颗粒物的内部,具有用于通过气体而阻挡所述颗粒物穿过的通孔。
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