[发明专利]LED晶粒扫瞄与点测的运作系统及运作方法有效
申请号: | 201110226595.9 | 申请日: | 2011-08-09 |
公开(公告)号: | CN102324395A | 公开(公告)日: | 2012-01-18 |
发明(设计)人: | 林晋生;白智亮;李聪明;温俊熙 | 申请(专利权)人: | 致茂电子(苏州)有限公司 |
主分类号: | H01L21/66 | 分类号: | H01L21/66;H01L33/00 |
代理公司: | 北京天平专利商标代理有限公司 11239 | 代理人: | 孙刚 |
地址: | 215000 江苏省苏州市*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 一种LED晶粒扫瞄与点测的运作系统及运作方法,用于检测自晶圆承载装置输出的LED晶粒载具上的LED晶粒,该LED晶粒扫瞄与点测的运作系统包括一输送带、一组用于搬运LED晶粒载具的汲取装置、至少一个设置于该输送带任一侧的扫描装置及一个以上设置于该输送带任一侧上的LED晶粒点测装置,而该输送带将该LED晶粒载具运送进入该扫描装置内时,会对该LED晶粒载具上的晶粒进行坐标扫描与储存,之后,会再由该输送带将该LED晶粒载具运送进入任一LED晶粒点测装置,以对该LED晶粒载具上的晶粒进行点测。本发明能够将晶粒扫描与晶粒点测流程一致化,不再需要人工进行搬运,可大幅提升晶粒点测的效率,节省制造成本与人力成本。 | ||
搜索关键词: | led 晶粒 运作 系统 方法 | ||
【主权项】:
一种LED晶粒扫瞄与点测的运作系统,用于检测自晶圆承载装置输出的LED晶粒载具上的LED晶粒,其特征在于,该LED晶粒扫瞄与点测的运作系统包括:一输送带;一组可于该晶圆承载装置及输送带位置之间作动的汲取装置,用于搬运LED晶粒载具;至少一个扫描装置,设置于该输送带的任一侧,该输送带使该LED晶粒载具运送进入该扫描装置内,以对该LED晶粒载具上的晶粒进行坐标扫描与储存;以及一个以上的LED晶粒点测装置,设置于该输送带的任一侧上,以使该LED晶粒载具经过坐标扫描后,由该输送带将该LED晶粒载具运送进入任一LED晶粒点测装置,以对该LED晶粒载具上的晶粒进行点测。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造