[发明专利]一种SRAM编程点抗幅照加固方法及其实现电路有效
申请号: | 201110229454.2 | 申请日: | 2011-08-11 |
公开(公告)号: | CN102360566A | 公开(公告)日: | 2012-02-22 |
发明(设计)人: | 王丽云;陈利光;王健;王元;周灏;来金梅;童家榕 | 申请(专利权)人: | 复旦大学 |
主分类号: | G11C11/413 | 分类号: | G11C11/413 |
代理公司: | 上海正旦专利代理有限公司 31200 | 代理人: | 陆飞;盛志范 |
地址: | 200433 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明属于微电子技术领域,具体为一种基于LUTFPGA的SRAM编程点抗幅照加固方法及其实现电路。本发明利用忆阻器的可编程特性,将其嵌入到传统的SRAM单元中,再添加写入电路。在使用时,通过对忆阻器进行编程,将其配置为非对称存储单元结构。忆阻器有高阻和低阻两种状态,其工艺与传统CMOS工艺兼容。这种非对称结构完全免疫于单粒子翻转(SEU)效应和单粒子引起的多位翻转(MBU)效应。 | ||
搜索关键词: | 一种 sram 编程 点抗幅照 加固 方法 及其 实现 电路 | ||
【主权项】:
一种SRAM编程点抗幅照加固方法,其特征在于:首先,将忆阻器嵌入到现有的SRAM单元中,再添加写入电路;然后,在使用时,通过对忆阻器进行编程,将其配置为非对称存储单元结构。
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