[发明专利]一种液晶面板显示驱动芯片的电性分析方法无效
| 申请号： | 201110229944.2 | 申请日： | 2011-08-11 |
| 公开（公告）号： | CN102385843A | 公开（公告）日： | 2012-03-21 |
| 发明（设计）人： | 张涛 | 申请（专利权）人： | 上海华碧检测技术有限公司 |
| 主分类号： | G09G3/36 | 分类号： | G09G3/36;G01R31/28 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 200433 上海*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种液晶面板显示驱动芯片的电性分析方法，该方法包括以下步骤：A、分析液晶面板显示异常的表现方式，寻找加电方式的依据；B、研究液晶面板显示驱动芯片的各引脚的功能，确定需要进行电性判断的引脚；C、根据芯片的引脚布局图和PCB板的引线布局图，确定在开盖前的电性测量位置，测量开盖前的电性；D、开盖后，使用探针直接探测芯片的引脚，进行加电测量，得出开盖后的电性特征；E、开盖前后的异常电性对比，判断失效点在封装级还是在晶圆级。本发明通过该种适合于液晶面板显示驱动芯片的电性分析方法，能够有效、合理地对开盖前后的电性特征进行比对，便于后续做出失效点是在封装级还是在晶圆级的判断。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 液晶面板 显示 驱动 芯片 分析 方法 | ||
【主权项】：
一种液晶面板显示驱动芯片的电性分析方法，其特征在于：该方法包括以下步骤：A、分析液晶面板显示异常的表现方式，寻找加电方式的依据；B、研究液晶面板显示驱动芯片的各引脚的功能，确定需要进行电性判断的引脚；C、根据芯片的引脚布局图和PCB板的引线布局图，确定在开盖前的电性测量位置，测量开盖前的电性；D、开盖后，使用探针直接探测芯片的引脚，进行加电测量，得出开盖后的电性特征；E、开盖前后的异常电性对比，判断失效点在封装级还是在晶圆级。
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