[发明专利]一种汽车电子中接触端子的失效分析方法无效
| 申请号： | 201110242113.9 | 申请日： | 2011-08-23 |
| 公开（公告）号： | CN102323282A | 公开（公告）日： | 2012-01-18 |
| 发明（设计）人： | 张涛 | 申请（专利权）人： | 上海华碧检测技术有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/22 | 分类号： | G01N23/22;G01N23/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 200433 上海市杨*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种汽车电子中接触端子的失效分析方法，包括以下步骤：A、使用扫描电子显微镜对接触端子样品进行表面观察；B、使用X射线特征粒子能量谱仪分析接触端子样品表面元素；C、使用X射线光电子能谱进行接触端子样品表面化合物官能团分析；D、制作接触端子样品为金相切片样品；E、使用扫描电子显微镜和X射线特征粒子能量谱仪对制作好的金相切片样品进行观察分析；F、综合分析以上步骤得出的结论，总结出接触端子样品失效的具体原因。本发明方法可快速判断出接触端子的质量好坏以及失效的接触端子的失效原因，可以有效规范汽车电子业界的技术人员进行关于接触端子质量分析的方法，同时也节省大量的分析成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 汽车 电子 接触 端子 失效 分析 方法 | ||
【主权项】：
一种汽车电子中接触端子的失效分析方法，其特征在于：该方法包括以下步骤：A、使用扫描电子显微镜对接触端子样品进行表面观察，查看表面镀层是否均一、完整以及是否有间隙和微裂纹；B、使用X射线特征粒子能量谱仪分析接触端子样品表面元素，查看是否有影响导电性的元素化合物；C、使用X射线光电子能谱进行接触端子样品表面化合物官能团分析，探测表面异常化合物组成形式；D、制作接触端子样品为金相切片样品；E、使用扫描电子显微镜和X射线特征粒子能量谱仪对制作好的金相切片样品进行观察分析；F、综合分析以上步骤得出的结论，总结出接触端子样品失效的具体原因。
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