[发明专利]光学检测装置以及具有光学检测装置的阵列测试装置有效
| 申请号： | 201110242564.2 | 申请日： | 2011-08-23 |
| 公开（公告）号： | CN102798634A | 公开（公告）日： | 2012-11-28 |
| 发明（设计）人： | 潘俊浩;郑东贤;李宁郁 | 申请（专利权）人： | 塔工程有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/88 | 分类号： | G01N21/88;G02B7/00 |
| 代理公司： | 北京弘权知识产权代理事务所(普通合伙) 11363 | 代理人： | 张文;郭放 |
| 地址： | 韩国庆*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | 本文公开一种光学检测装置以及一种具有所述光学检测装置的阵列测试装置。本发明可以简化用于调整光学系统放大率的结构，并且防止在调整光学系统放大率时产生外来杂质，从而防止外来杂质污染光学系统或玻璃面板。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 检测 装置 以及 具有 阵列 测试 | ||
【主权项】：
一种光学检测装置，包括：物镜，所述物镜设置为面向玻璃面板；多个镜筒透镜，经过所述物镜的光进入所述镜筒透镜，所述镜筒透镜具有不同的放大率；摄像单元，所述摄像单元拍摄经过所述镜筒透镜之一的光的图像；以及切换单元，所述切换单元在光进入所述镜筒透镜所沿的路径之间选择性地切换光的路径，以使经过所述物镜的光进入所述镜筒透镜中选定的一个。
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