[发明专利]一种用于数控抛光叶片型面的抛光轨迹确定方法无效

专利信息
申请号: 201110257831.3 申请日: 2011-09-01
公开(公告)号: CN102306010A 公开(公告)日: 2012-01-04
发明(设计)人: 蔺小军;史耀耀;杨阔;张军锋;李小彪;段继豪;董婷 申请(专利权)人: 西北工业大学
主分类号: G05B19/4097 分类号: G05B19/4097
代理公司: 西北工业大学专利中心 61204 代理人: 陈星
地址: 710072 *** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明提出了一种用于数控抛光叶片型面的抛光轨迹确定方法,首先建立叶片型面的参数化模型,在叶片型面上插入β条等分线,然后建立每一段参数化后的叶片型面的拟合直纹面,在拟合直纹面的等距面上插入P条等距线,在等距线上确定加工点坐标和加工轴法向。本发明提出的方法采用直纹面拟合逼近叶片型面,有效地保证了数控加工过程中,能够精确控制抛光轮与叶片型面的加工点,提高了加工精度和叶片质量的一致性,能够应用于对叶片型面的数控抛光工艺中。
搜索关键词: 一种 用于 数控 抛光 叶片 轨迹 确定 方法
【主权项】:
一种用于数控抛光叶片型面的抛光轨迹确定方法,其特征在于:包括以下步骤,步骤1:通过三维CAD建模软件建立叶片的三维模型,以叶片流道线方向为u方向,与流道线垂直方向为v方向;沿v方向在建立的叶片三维模型上插入间隔不大于5mm的α条等参数线,采用α条等参数线扫掠出叶片型面曲面,得到叶片型面的参数化模型;步骤2:沿u方向在步骤1得到的参数化后的叶片型面上插入β条等分线,将参数化后的叶片型面沿u方向等分成β‑1段,其中每段宽度不大于抛光轮宽度的1/4;并在每条等分线上插入分段点,同一条等分线上相邻两个分段点沿等分线的距离不大于5mm;步骤3:确定第k段参数化后的叶片型面的数控抛光轨迹:第k段参数化后的叶片型面由第βk条和第βk+1条等分线组成,其中第βk条等分线上有M个分段点,第βk+1条等分线上有N个分段点;步骤3.1:将第βk条等分线上的第i个分段点与第βk+1条等分线上的所有分段点连接,得到N条线段,沿第k段参数化后的叶片型面的法线方向测量每条线段与第k段参数化后的叶片型面的最大距离,得到最大距离集合LN,取对应LN中最小值的一条线段作为第i个分段点的拟合线段;步骤3.2:循环进行步骤3.1,直至得到第βk条等分线上所有分段点的拟合线段,采用第βk条等分线上所有分段点的拟合线段扫掠得到第k段参数化后的叶片型面的拟合直纹面;步骤3.3:将拟合直纹面沿法线方向偏置抛光轮半径距离得到等距面;在等距面上沿u方向插入P条等距线,相邻两条等距线距离不大于抛光轮宽度的1/8;在每条等距线上插入接触点,同一等距线上相邻两个接触点距离不大于5mm,以接触点在 加工坐标系中坐标作为抛光轮在叶片型面上的加工点坐标,以接触点处的主法线方向作为抛光刀轴的中心轴线矢量方向,从而确定了第k段参数化后的叶片型面的数控抛光轨迹;步骤4:循环进行步骤3,直至得到所有β‑1段参数化后的叶片型面的数控抛光轨迹。
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