[发明专利]采用功耗分析检测FPGA芯片中恶意电路的方法及其系统在审
| 申请号： | 201110259418.0 | 申请日： | 2011-09-05 |
| 公开（公告）号： | CN102592068A | 公开（公告）日： | 2012-07-18 |
| 发明（设计）人： | 王力纬;罗宏伟 | 申请（专利权）人： | 工业和信息化部电子第五研究所 |
| 主分类号： | G06F21/00 | 分类号： | G06F21/00 |
| 代理公司： | 广州三环专利代理有限公司 44202 | 代理人： | 何传锋;程跃华 |
| 地址： | 510610 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种采用功耗分析检测FPGA芯片中恶意电路的系统，它包括：直流稳压电源，给被测FPGA芯片和施加激励FPGA芯片提供直流电源；电流探头，测量被测FPGA芯片电源端的瞬态电流；示波器，在被测FPGA芯片生成的触发信号的触发下，采集电流探头测量到的电流信号；施加激励FPGA芯片，给被测FPGA芯片施加激励信号，并将被测FPGA芯片的响应信号传输至计算机中，以备与预期响应进行比较校验；计算机，接收用户编写的激励约束，产生测试向量，并完成响应校验、示波器设置、波形数据收集、数据分析与处理工作。本发明还公开了一种利用上述系统进行FPGA芯片中恶意电路检测的方法。 | ||
| 搜索关键词： | 采用 功耗 分析 检测 fpga 芯片 恶意 电路 方法 及其 系统 | ||
【主权项】：
一种采用功耗分析检测FPGA芯片中恶意电路的系统，其特征在于，它包括：直流稳压电源，给被测FPGA芯片和施加激励FPGA芯片提供直流电源；电流探头，测量被测FPGA芯片电源端的瞬态电流；示波器，在被测FPGA芯片生成的触发信号的触发下，采集电流探头测量到的电流信号；施加激励FPGA芯片，给被测FPGA芯片施加激励信号，并将被测FPGA芯片的响应信号传输至计算机中，以备与预期响应进行比较校验；计算机，接收用户编写的激励约束，产生测试向量，并完成响应校验、示波器设置、波形数据收集、数据分析与处理工作。
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