[发明专利]半导体器件有效
申请号: | 201110264387.8 | 申请日: | 2002-10-22 |
公开(公告)号: | CN102324250A | 公开(公告)日: | 2012-01-18 |
发明(设计)人: | 山岡雅直;石橋孝一郎;松井重纯;長田健一 | 申请(专利权)人: | 瑞萨电子株式会社 |
主分类号: | G11C11/417 | 分类号: | G11C11/417;G11C5/14 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人: | 金春实 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明涉及混合装配有逻辑电路和SRAM电路的系统LSI,特别是涉及减小漏电流,减小备用状态的功耗的半导体器件。在系统LSI中的逻辑电路上设置电源开关,在备用时,切断该开关以减小漏电流。同时,在SRAM电路中,控制衬底偏压以减小漏电流。 | ||
搜索关键词: | 半导体器件 | ||
【主权项】:
一种半导体器件,具有:配置在多条字线和位线的交点上的多个存储单元,被供给有第1动作电压的第1节点,被供给有低于上述第1动作电压的第2动作电压的第2节点,连接在上述位线上的读写控制电路,对上述字线进行选择的译码器,连接在上述译码器与上述第1节点之间的第1开关,连接在上述读写控制电路与上述第2节点之间的第2开关,上述第1开关被设置成将上述译码器而不是上述读写控制电路连接于上述第1节点,上述第2开关被设置成将上述读写控制电路而不是上述译码器连接于上述第2节点,从而使上述译码器的漏电流由上述第1开关的动作所控制,而上述读写控制电路的漏电流由上述第2开关的动作所控制。
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