[发明专利]一种用于检测IGZO-TFT驱动特性的装置无效
| 申请号： | 201110267138.4 | 申请日： | 2011-09-09 |
| 公开（公告）号： | CN102831850A | 公开（公告）日： | 2012-12-19 |
| 发明（设计）人： | 王彬 | 申请（专利权）人： | 广东中显科技有限公司 |
| 主分类号： | G09G3/00 | 分类号： | G09G3/00;G09G3/36 |
| 代理公司： | 北京瑞恒信达知识产权代理事务所(普通合伙) 11382 | 代理人： | 曹津燕 |
| 地址： | 528225 广东省佛*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提出一种用于检测IGZO-TFT驱动特性的装置。该用于检测IGZO-TFT驱动特性的装置包括IGZO-TFT驱动单元以及阵列制备所用到的掩模板，数个微胶囊电泳显示单元；该掩模板包含三个功能区，分别为：对准标记区、单个器件区、阵列区域。通过该检测装置，不但能够对阵列TFT晶体管进行驱动性能的检测，而且对单一TFT晶体管也能够实现逐个检测；同时，也可以根据需要对阵列数量进行设定，并且TFT阵列在单像素静态驱动时，能够实现驱动显示功能。另外，采用对准标记区能够加快检测工作的效率和准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 检测 igzo tft 驱动 特性 装置 | ||
【主权项】：
一种用于检测IGZO‑TFT驱动特性的装置，该装置包括IGZO‑TFT驱动单元以及阵列制备所用到的掩模板，数个微胶囊电泳显示单元；其特征在于：该掩模板包含三个功能区，分别为：对准标记区、单个器件区、阵列区域。
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