[发明专利]电子元器件高速测试分选设备无效
| 申请号： | 201110272643.8 | 申请日： | 2011-09-14 |
| 公开（公告）号： | CN102357473A | 公开（公告）日： | 2012-02-22 |
| 发明（设计）人： | 林琳;缪来虎;卓维煌;李靖鹏;聂晶;曾庆略 | 申请（专利权）人： | 深圳市华腾半导体设备有限公司 |
| 主分类号： | B07C5/36 | 分类号： | B07C5/36;G01R31/00;G01R31/26 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518055 广东省深圳市南*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种电子元器件高速测试分选设备，其包括接受电子元器件的吸嘴和转盘，转盘采用卧式布局，其轴线与水平方向平行，吸嘴垂直分布于转盘边缘，吸嘴的轴向方向与转盘的轴向方向相垂直；测试基板，在其上对电子器件的电子特定进行测定。通过使用卧式布局的吸嘴转盘，测试完毕后，吸嘴会直接朝下靠近收料口，无需水平一段软管，这使得电子元器件在分料的过程所经过的路径长度大大缩小。 | ||
| 搜索关键词： | 电子元器件 高速 测试 分选 设备 | ||
【主权项】：
一种电子元器件高速测试分选设备，其包括：接受电子元器件的吸嘴和转盘，转盘采用卧式布局，其轴线与水平方向平行，吸嘴垂直分布于转盘边缘，吸嘴的轴向方向与转盘的轴向方向相垂直；测试基座，用于放置测试用的探针机构，在其上测定出元器件所吸收的波长和光强，并对电子器件的电子特性进行测定。
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