[发明专利]金属铜大马士革互联结构的制造方法无效
申请号: | 201110274610.7 | 申请日: | 2011-09-15 |
公开(公告)号: | CN102412196A | 公开(公告)日: | 2012-04-11 |
发明(设计)人: | 郑春生;张文广;徐强;陈玉文 | 申请(专利权)人: | 上海华力微电子有限公司 |
主分类号: | H01L21/768 | 分类号: | H01L21/768 |
代理公司: | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人: | 陆花 |
地址: | 201203 上海市浦*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明提出一种金属铜大马士革互联结构的制造方法,包括如下步骤:在金属介电层中预先制作第一通孔和第一沟槽,并在金属介电层上由下至上依次沉积蚀刻阻挡层、牺牲层、硬掩膜层、金属硬掩膜层、第一抗反射涂层、对应于第一沟槽的图形化的第一光刻胶;在后段互联金属工艺整合中形成双大马士革结构;在双大马士革结构中采用非氧化性酸去除蚀刻阻挡层之上的牺牲层;采用旋涂工艺将蚀刻阻挡层上方除金属铜之外的区域重新填满低介电常数材料,形成金属铜大马士革互联结构。本发明提供了一种金属铜大马士革互联结构的制造方法,以杜绝干法蚀刻和/或灰化工艺等在传统工艺中导致的低介电常数的损伤。 | ||
搜索关键词: | 金属 大马士革 联结 制造 方法 | ||
【主权项】:
一种金属铜大马士革互联结构的制造方法,包括如下步骤:在金属介电层中预先制作的第一通孔和第一沟槽中采用电镀工艺形成电镀铜,并在金属介电层表面上由下至上依次沉积蚀刻阻挡层、牺牲层、硬掩膜层、金属硬掩膜层、第一抗反射涂层、对应于所述第一沟槽的图形化的第一光刻胶;以第一光刻胶为掩膜,采用干法蚀刻由上至下依次蚀刻第一抗反射涂层、金属硬掩膜层,蚀刻停留在硬掩膜层,通过灰化工艺去除第一光刻胶和第一抗反射涂层;在暴露出的硬掩膜层以及金属硬掩膜层之上依次沉积第二抗反射涂层、对应于所述第一通孔的图形化的第二光刻胶;以第二光刻胶为掩膜采用干法蚀刻到牺牲层中,形成第二通孔;采用灰化工艺去除第二光刻胶和第二抗反射涂层,暴露出金属硬掩膜层;以金属硬掩膜层为掩膜,蚀刻硬掩膜层和部分牺牲层,形成第二沟槽,同步蚀刻第二通孔下方的牺牲层,形成第三通孔;采用干法蚀刻去除第三通孔内的蚀刻阻挡层,暴露出所述第一通孔中的铜后停止蚀刻,形成第四通孔;采用电镀工艺在第四通孔和第二沟槽中进行金属铜填充以形成金属互联层;采用化学机械掩膜工艺去除金属硬硬膜层和硬掩膜层;采用非氧化性酸去除蚀刻阻挡层之上的牺牲层;采用旋涂工艺将蚀刻阻挡层上方除金属铜之外的区域重新填满低介电常数材料,形成金属铜大马士革互联结构。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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