[发明专利]半导体激光元件、半导体激光装置及使用其的光装置无效
申请号: | 201110281377.5 | 申请日: | 2011-09-14 |
公开(公告)号: | CN102403652A | 公开(公告)日: | 2012-04-04 |
发明(设计)人: | 龟山真吾;祐川博至 | 申请(专利权)人: | 三洋电机株式会社 |
主分类号: | H01S5/10 | 分类号: | H01S5/10 |
代理公司: | 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 | 代理人: | 龙淳 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明提供一种半导体激光元件、半导体激光装置及使用其的光装置,该半导体激光元件具备:包括活性层,具有射出侧谐振器面和反射侧谐振器面的半导体元件层;和在射出侧谐振器面的表面上的端面涂覆膜。端面涂覆膜包括:配置于端面涂覆膜最表面的光催化剂层;和配置于光催化剂层与射出侧谐振器面之间的电介质层,在活性层发出的激光的波长为λ,电介质层的折射率为n的情况下,电介质层的厚度设定为由m×λ/(2×n)(其中,m为整数)规定的厚度,并且为1μm以上。 | ||
搜索关键词: | 半导体 激光 元件 装置 使用 | ||
【主权项】:
一种半导体激光元件,其特征在于,具备:包含活性层,具有射出侧谐振器面和反射侧谐振器面的半导体元件层;和在所述射出侧谐振器面的表面上的端面涂覆膜,所述端面涂覆膜包括:配置于所述端面涂覆膜的最表面的光催化剂层;和配置于所述光催化剂层与所述射出侧谐振器面之间的电介质层,在所述活性层发出的激光的波长为λ,所述电介质层的折射率为n的情况下,所述电介质层的厚度设定为由m×λ/(2×n)规定的厚度,并且为1μm以上,其中,m为整数。
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