[发明专利]中央处理器参数的测试方法及其测试设备无效
| 申请号： | 201110292908.0 | 申请日： | 2011-10-06 |
| 公开（公告）号： | CN103033767A | 公开（公告）日： | 2013-04-10 |
| 发明（设计）人： | 罗奇艳;陈鹏;刘丹丹;童松林 | 申请（专利权）人： | 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司;鸿海精密工业股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/40 | 分类号： | G01R31/40;G01R21/06;G01R19/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518109 广东省深圳市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提供一种中央处理器电源性能参数的测试设备与测试方法。测试设备包括一主电路板、一连接器与一测试模组，该连接器与该测试模组设置于该主电路板上，该测试模组经由该连接器与主电路板电连接，该主电路板、该连接器与测试模组配合用于测试一待测试的中央处理器的电源性能参数，该连接器包括若干连接端，该若干连接端中包括至少一第一电源端，该至少一电源端用于连接对应该中央处理器的至少一电源引脚，该测试模组用于测试该中央处理器对应该至少一第一电源端的电源性能参数。 | ||
| 搜索关键词： | 中央处理器 参数 测试 方法 及其 设备 | ||
【主权项】：
一种测试设备，其特征在于，其包括一主电路板、一连接器与一测试模组，该连接器与该测试模组设置于该主电路板上，该测试模组经由该连接器与主电路板电连接，该主电路板、该连接器与测试模组配合用于测试一待测试的中央处理器的电源性能参数，该连接器包括若干连接端，该若干连接端中包括至少一第一电源端，该至少一电源端用于连接对应该中央处理器的至少一电源引脚，该测试模组用于测试该中央处理器对应该至少一第一电源端的电源性能参数。
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