[发明专利]衬底、外延片及半导体器件无效

专利信息
申请号: 201110295490.9 申请日: 2011-09-30
公开(公告)号: CN102324435A 公开(公告)日: 2012-01-18
发明(设计)人: 顾昱;钟旻远;林志鑫;陈斌 申请(专利权)人: 上海晶盟硅材料有限公司
主分类号: H01L29/36 分类号: H01L29/36
代理公司: 上海脱颖律师事务所 31259 代理人: 李强
地址: 201707 上海市*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种衬底,包括衬底本体,其特征在于,所述衬底本体背面设置有第一二氧化硅层;在第一二氧化硅层表面设置有多晶硅层;多晶硅层表面设置有第二多晶硅层。本发明的另一个优点是能够提高外延片的平坦度,且可提高外延层的电阻率均匀性。
搜索关键词: 衬底 外延 半导体器件
【主权项】:
衬底,包括衬底本体,其特征在于,所述衬底本体背面设置有第一二氧化硅层;在第一二氧化硅层表面设置有多晶硅层;多晶硅层表面设置有第二多晶硅层。
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