[发明专利]高压N型结型场效应晶体管及其制造方法无效

专利信息
申请号: 201110295692.3 申请日: 2011-09-30
公开(公告)号: CN102339755A 公开(公告)日: 2012-02-01
发明(设计)人: 吴晓丽;刘建华 申请(专利权)人: 上海先进半导体制造股份有限公司
主分类号: H01L21/336 分类号: H01L21/336;H01L29/78;H01L29/06
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人: 陈亮
地址: 200233 *** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明提供一种高压N型结型场效应晶体管的制造方法,包括步骤:提供P型半导体衬底,其上形成有P型埋层,作为背栅;在P型半导体衬底上形成P型外延层;在P型外延层上形成多个LOCOS,隔离出漏极、栅极、源极和背栅引出端的位置;在P型外延层中注入N型杂质,经过扩散形成低浓度N阱;在栅极的位置处注入P型杂质,经过扩散形成P型体区,作为栅极;在漏极与栅极之间的LOCOS上形成场板;在漏极和源极的位置处注入N型杂质形成漏极和源极,在栅极和背栅引出端的位置处注入P型杂质形成栅极引出端和背栅引出端。相应地,本发明还提供一种高压N型结型场效应晶体管。本发明能够减小漏极端的电场强度,增大安全工作区和击穿电压,与60V高压BCD工艺相兼容。
搜索关键词: 高压 型结型 场效应 晶体管 及其 制造 方法
【主权项】:
一种高压N型结型场效应晶体管(200)的制造方法,包括步骤:提供P型半导体衬底(201),其上形成有P型埋层(202),作为所述晶体管(200)的背栅;在所述P型半导体衬底(201)上形成P型外延层(203);在所述P型外延层(203)上形成多个局部氧化隔离(204),隔离出所述晶体管(200)的漏极(211)、栅极(207)、源极(212)和背栅引出端(213)的位置;在所述P型外延层(203)中注入N型杂质,经过扩散形成所述晶体管(200)的低浓度N阱(205);在所述栅极(207)的位置处注入P型杂质,经过扩散形成P型体区(206),作为所述晶体管(200)的栅极(207);在所述漏极(211)与所述栅极(207)之间的所述局部氧化隔离(204)上形成场板(208);在所述漏极(211)和所述源极(212)的位置处注入N型杂质形成漏极(211)和源极(212),以及在所述栅极(207)和所述背栅引出端(213)的位置处注入P型杂质形成栅极引出端(214)和背栅引出端(213)。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海先进半导体制造股份有限公司,未经上海先进半导体制造股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201110295692.3/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top