[发明专利]光电检测系统的探头下压装置与下压方法无效
| 申请号： | 201110298657.7 | 申请日： | 2011-09-30 |
| 公开（公告）号： | CN102506919A | 公开（公告）日： | 2012-06-20 |
| 发明（设计）人： | 牛金海;莫斌峰;曾静 | 申请（专利权）人： | 上海交通大学 |
| 主分类号： | G01D11/00 | 分类号： | G01D11/00 |
| 代理公司： | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人： | 郑玮 |
| 地址： | 200240 上海*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种光电检测系统的探头下压装置与下压方法，装置包括：用于放置被测物体的底盘、设置在所述底盘上方并能相对所述底盘在竖直方向上移动的探头、与所述探头连接从而控制所述探头的移动的下压模块，所述下压模块与探头滑动连接，所述探头的底部设置有第一磁性块，所述底盘上设置有对应于所述第一磁性块的第二磁性块，第一磁性块与第二磁性块之间能够具有吸合力。根据本发明，探头与底盘之间的贴合力主要是由磁性块的吸合力决定的，而当探头的底部接触到底盘之后，下压模块继续下压的距离对探头与底盘之间的贴合力并无影响。因此能保证光电检测系统的一致性，大幅度提高检测精度，同时也能避免仪器由于在瞬间受到过大压力而发生损坏。 | ||
| 搜索关键词： | 光电 检测 系统 探头 下压 装置 方法 | ||
【主权项】：
一种光电检测系统的探头下压装置，包括：用于放置被测物体的底盘、设置在所述底盘上方并能相对所述底盘在竖直方向上移动的探头、与所述探头连接从而控制所述探头的移动的下压模块，其特征在于：所述下压模块与探头滑动连接，所述探头的底部设置有第一磁性块，所述底盘上设置有对应于所述第一磁性块的第二磁性块，第一磁性块与第二磁性块之间能够具有吸合力。
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