[发明专利]基于PXI总线的跳频性能检测插卡式结构模块有效

专利信息
申请号: 201110298722.6 申请日: 2011-09-28
公开(公告)号: CN102315890A 公开(公告)日: 2012-01-11
发明(设计)人: 吴成海;刘峰;董建明;王震;周正才;田甲;王继迎;曹维;邵敏庆 申请(专利权)人: 吴成海
主分类号: H04B17/00 分类号: H04B17/00;H04B1/713
代理公司: 武汉金堂专利事务所 42212 代理人: 胡清堂
地址: 430010 湖北省武汉市江岸区中山*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明为基于PXI总线的跳频性能检测插卡式结构模块,由模数转换单元、信号处理单元、跳频检测单元和PXI总线接口单元连同外设的插卡E5相连接构成一个整体模块,基于宽带信号采集、频率精确测量和功率检测技术为整体设计思想,采用合理电路芯片及简单机械结构建立硬件平台,利用跳频性能检测软件,编制出标准软件包,通过对跳频信号的宽带采集和能量检测,精确分析计算跳频发射平均功率、跳频速率、信道切换时间、跳频频率等参数,进而评估跳频电台性能。具有设计合理、结构简单、频率范围宽、功率精度高、跳频频点多、信道切换时间短、可靠性高、物理接口好等特点。
搜索关键词: 基于 pxi 总线 性能 检测 卡式 结构 模块
【主权项】:
基于PXI总线的跳频性能检测插卡式结构模块,由模数转换单元⑴、信号处理单元⑵、跳频检测单元⑶和PXI总线接口单元⑷连同外设的插卡E5,相连接构成一个整体模块,其特征是:所述模数转换单元⑴又包含有一个衰减器组Z和一个宽带ADC转换器E1,且E1的3组输出端A1.0~A1.9,B1.0~B1.9和C1.0~C1.9并依次分别与信号处理单元⑵中的FPGA大规模可编程门阵列E2的3组输入端P1.0~P1.9,P2.0~P2.9和P3.0~P3.9相对应连接。
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