[发明专利]GRIN光纤探针及其制作方法、聚焦性能检测装置和检测方法无效

专利信息
申请号: 201110308238.7 申请日: 2011-10-13
公开(公告)号: CN102499619A 公开(公告)日: 2012-06-20
发明(设计)人: 王驰;于瀛洁;方臣;周瑜秋;张之江 申请(专利权)人: 上海大学
主分类号: A61B1/07 分类号: A61B1/07;G02B6/24;G01M11/02
代理公司: 上海上大专利事务所(普通合伙) 31205 代理人: 何文欣
地址: 200444*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种GRIN光纤探针及其制作方法、聚焦性能检测装置和检测方法。GRIN光纤探针是一种超小光学探头,由单模光纤、无芯光纤和多模光纤通过焊接和长度切割而成。GRIN光纤探针的聚焦性能检测装置包括光源、探针夹具、显微物镜、光导管、CCD和计算机构成,光源发出的高斯光束通过光纤引线传输到GRIN光纤探针,并聚焦至空中某一位置,输出的聚焦光束由显微物镜放大后并通过光导管传输到CCD靶面上进行光强分布轮廓的检测和记录,光强信息在计算机中进行处理和分析,进一步判定束腰位置距离探针输出端面的距离和光斑大小。本发明提供的光学探针制作方法能实现长度不超过1毫米量级的GRIN光纤探针的制作,本发明提供的检测装置能实现探针聚焦性能的高精度检测。
搜索关键词: grin 光纤 探针 及其 制作方法 聚焦 性能 检测 装置 方法
【主权项】:
一种GRIN光纤探针,包括一段单模光纤(203)、一段无芯光纤(204)和一段多模光纤(205),其特征是:所述单模光纤(203)、无芯光纤(204)和多模光纤(205)依次连接成一体构成超小光学探头。
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