[发明专利]一种移动终端生产射频测试系统误差的计量装置和方法有效

专利信息
申请号: 201110313172.0 申请日: 2011-10-14
公开(公告)号: CN102386982A 公开(公告)日: 2012-03-21
发明(设计)人: 万燕斌 申请(专利权)人: 中兴通讯股份有限公司
主分类号: H04B17/00 分类号: H04B17/00
代理公司: 北京安信方达知识产权代理有限公司 11262 代理人: 李健;龙洪
地址: 518057 广东省深圳市南山*** 国省代码: 广东;44
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开了一种移动终端生产射频测试系统误差的计量装置及方法,所述装置包括信号源、功率计、测试设备和输出模块,所述方法包括:信号源发射上行测试信号;功率计根据所述上行测试信号测量所述信号源的内部损耗;测试设备测量所述上行测试信号的线路损耗;输出模块将所述测试设备测量得到的所述上行测试信号的线路损耗与所述功率计测量得到的所述信号源的内部损耗的差值作为所述移动终端生产射频测试系统的上行链路线损输出。该计量装置及方法避免了由金机金板自身误差带来的隐患,采用稳定的信号源,精度更高的功率计测试信号源的内部损耗,使系统误差计量更加准确,进一步提高了移动终端生产射频测试系统的精度、稳定性及可靠性。
搜索关键词: 一种 移动 终端 生产 射频 测试 系统误差 计量 装置 方法
【主权项】:
一种移动终端生产射频测试系统误差的计量装置,包括测试设备、输出模块,其特征在于:还包括信号源和功率计,其中,所述信号源用于发射上行测试信号;所述功率计与所述信号源相连,用于根据所述上行测试信号测量所述信号源的内部损耗;所述测试设备与所述信号源相连,用于测量所述上行测试信号的线路损耗;所述输出模块分别与所述功率计和所述测试设备相连,用于读取所述功率计的测量值和所述测试设备的测量值,将所述测试设备测量得到的所述上行测试信号的线路损耗与所述功率计测量得到的所述信号源的内部损耗的差值作为所述测试系统的上行链路线损输出。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中兴通讯股份有限公司,未经中兴通讯股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201110313172.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top