[发明专利]一种具有大磁电阻效应的p-Si基异质结构的制备方法无效

专利信息
申请号: 201110315643.1 申请日: 2011-10-18
公开(公告)号: CN102361062A 公开(公告)日: 2012-02-22
发明(设计)人: 王晓姹 申请(专利权)人: 天津理工大学
主分类号: H01L43/12 分类号: H01L43/12;C23C14/35;C23C14/06
代理公司: 天津佳盟知识产权代理有限公司 12002 代理人: 侯力
地址: 300384 天津市南*** 国省代码: 天津;12
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摘要: 一种具有大磁电阻效应的p-Si基异质结构的制备方法本专利操作,步骤如下:1)在对向靶磁控溅射镀膜机的靶头上安装一对石墨靶并均匀固定Ni片;2)将带有自然氧化层的p型Si片的玻璃基底表面杂质清除后,安装在样品架上;3)开启磁控溅射镀膜机抽真空;4)向真空室通入N2和Ar的混合气体;5)开启溅射直流电源,在一对石墨靶上施加电流和电压;6)打开挡板开始溅射,在基片上生长Ni-CN复合薄膜;7)溅射完成后,向真空室充入氮气,取出制得的目标产品。本发明的优点是:该p-Si基异质结构采用CN材料作为母体,耐酸、耐氧化、抗腐蚀,可很好地保护自旋电子学器件;其制备方法工艺简单、易于实施、成本低,应用范围广。
搜索关键词: 一种 具有 磁电 效应 si 基异质 结构 制备 方法
【主权项】:
一种具有大磁电阻效应的p Si基异质结构的制备方法本专利操作,其特征在于步骤如下:1)在对向靶磁控溅射镀膜机的靶头上安装一对石墨靶,在石墨靶上均匀固定Ni片;2)将带有自然氧化层的p型Si片的玻璃基底表面杂质清除后,安装在样品架上,安装位置在对向靶连线的中垂线上;3)开启磁控溅射镀膜机,先后启动一级机械泵和二级分子泵抽真空,直至溅射室的背底真空度为2×10–4 Pa;4)向真空室通入N2和Ar的混合气体,使得真空室中的真空度保持在1 Pa;5)开启溅射直流电源,在一对石墨靶上施加电流和电压,预溅射15分钟,等溅射电流和电压稳定;6)打开基片架上的挡板开始溅射,基片位置固定,在p型Si基片上生长Ni CN复合薄膜,从而形成Ni CN/p Si异质结构;7)生长薄膜30分钟后,关闭基片架上的挡板,然后关闭溅射电源,停止通入溅射气体Ar和N2,继续抽真空半小时后关闭真空系统,待系统冷却至室温后向真空室充入纯度为99.999%的氮气,直到真空室的气压与外面大气压相同时,打开真空室即可取出制得的Ni CN/p Si异质结构样品。
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