[发明专利]一种颗粒介质等效力学参数测量系统无效
| 申请号： | 201110318981.0 | 申请日： | 2011-10-19 |
| 公开（公告）号： | CN102359927A | 公开（公告）日： | 2012-02-22 |
| 发明（设计）人： | 马少鹏;刘程林;马沁巍;蔡小兵;苏煜;王洪涛;孙立斌 | 申请（专利权）人： | 北京理工大学 |
| 主分类号： | G01N15/00 | 分类号： | G01N15/00 |
| 代理公司： | 北京万慧达知识产权代理有限公司 11111 | 代理人： | 杨颖;张一军 |
| 地址： | 100081 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种颗粒介质等效力学参数测量系统，包括容纳颗粒介质的刚性开口容器，所述刚性开口容器的容腔的形状为长方体；在所述容腔的侧壁上设置有压力传感器和位移传感器；在所述容腔内活动设置有颗粒介质压力传递部件，所述颗粒介质压力传递部件的一侧与所述压力传感器和所述位移传感器触压，所述颗粒介质压力传递部件的另一侧的所述容腔容纳所述颗粒介质；还包括容积调节板，所述容积调节板调整容纳所述颗粒介质的空间的容积。本发明的测量系统结构简单，成本低，可广泛应用于对颗粒介质等效力学参数的测量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 颗粒 介质 等效 力学 参数 测量 系统 | ||
【主权项】：
一种颗粒介质等效力学参数测量系统，包括容纳颗粒介质的刚性开口容器，其特征在于：所述刚性开口容器的容腔的形状为长方体；在所述容腔的侧壁上设置有压力传感器和位移传感器；在所述容腔内活动设置有颗粒介质压力传递部件，所述颗粒介质压力传递部件的一侧与所述压力传感器和所述位移传感器触压，所述颗粒介质压力传递部件的另一侧的所述容腔的空间容纳所述颗粒介质；还包括容积调节板，所述容积调节板调整容纳所述颗粒介质的空间的容积。
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