[发明专利]I层钒掺杂的PIN型核电池及其制作方法有效

专利信息
申请号: 201110319001.9 申请日: 2011-10-19
公开(公告)号: CN102354540A 公开(公告)日: 2012-02-15
发明(设计)人: 郭辉;张克基;张玉明;张玉娟;韩超;石彦强 申请(专利权)人: 西安电子科技大学
主分类号: G21H1/06 分类号: G21H1/06
代理公司: 陕西电子工业专利中心 61205 代理人: 王品华;朱红星
地址: 710071*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明公开了一种I层钒掺杂的PIN型核电池及其制作方法,主要解决现有技术中制作碳化硅PIN结核电池中I层掺杂浓度高的问题。本发明的PIN型核电池自上而下包括放射性同位素源层(1)、SiO2致密绝缘层(2)、SiO2钝化层(3)、p型欧姆接触电极(4)、掺杂浓度为1×1019~5×1019cm-3的p型SiC外延层(5)、n型SiC外延层(6)、掺杂浓度为1×1018~7×1018cm-3的n型SiC衬底(7)和n型欧姆接触电极(8)。该n型SiC外延层(6)是通过注入能量为2000KeV~2500KeV,剂量为5×1013~1×1015cm-2的钒离子形成掺杂浓度为1×1013~5×1014cm-3的n型SiC外延层。本发明具有电子空穴对收集率,器件的开路电压和能量转换效率高的优点,可作为微系统的片上电源、心脏起搏器的电源和手机备用电源。
搜索关键词: 掺杂 pin 核电 及其 制作方法
【主权项】:
一种I层钒掺杂的PIN型核电池,自上而下依次包括放射性同位素源层(1)、SiO2钝化层(2)、SiO2致密绝缘层(3)、p型欧姆接触电极(4)、p型SiC外延层(5)、n型SiC外延层(6)、n型SiC衬底样片(7)和n型欧姆接触电极(8),其特征在于:p型SiC外延层(5)的掺杂浓度为1×1019~5×1019cm‑3,n型SiC衬底样片(7)的掺杂浓度为1×1018~7×1018cm‑3,n型SiC外延层(6)的掺杂浓度为1×1013~5×1014cm‑3,且通过注入能量为2000KeV~2500KeV,剂量为5×1013~1×1015cm‑2的钒离子形成。
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