[发明专利]一种内存条测试装置及测试方法无效
| 申请号： | 201110320418.7 | 申请日： | 2011-10-20 |
| 公开（公告）号： | CN102339650A | 公开（公告）日： | 2012-02-01 |
| 发明（设计）人： | 瞿世尊;时洵 | 申请（专利权）人： | 中兴通讯股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 深圳鼎合诚知识产权代理有限公司 44281 | 代理人： | 薛祥辉 |
| 地址： | 518057 广东省深*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种内存条测试装置及测试方法。本发明的内存条测试装置包括一内存条接口、一测试控制单元以及一个功能测试单元，该功能测试单元与内存条接口相连，测试控制单元与功能测试单元相连。其中功能测试单元包括电源拉偏测试模块、内存压力测试模块、信号引出测试模块之中的至少一种模块。本发明的内存条测试装置及测试方法，能够避免因不能真实模拟内存条工作环境导致的测试不全面，测试结果不够准确的问题，提高了测试的效率以及测试的全面性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 内存条 测试 装置 方法 | ||
【主权项】：
一种内存条测试装置，包括一个用以放置被测内存条的内存条接口，其特征在于，还包括：一个测试控制单元以及一个功能测试单元；所述功能测试单元与所述内存条接口相连；所述测试控制单元与所述功能测试单元相连；所述测试控制单元用于进行内存条测试参数的配置、构建测试模型，以及测试过程控制。
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