[发明专利]测量烟颗粒的粒径的方法及装置无效
| 申请号： | 201110330275.8 | 申请日： | 2011-10-26 |
| 公开（公告）号： | CN102507399A | 公开（公告）日： | 2012-06-20 |
| 发明（设计）人： | 张永明;李耀东;方俊;王进军 | 申请（专利权）人： | 中国科学技术大学 |
| 主分类号： | G01N15/02 | 分类号： | G01N15/02 |
| 代理公司： | 北京凯特来知识产权代理有限公司 11260 | 代理人： | 郑立明;黄晓军 |
| 地址： | 230026 安*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明实施例提供了一种测量烟颗粒的粒径的方法和装置。该方法主要包括：根据烟颗粒的散射光的直流分量和谐波分量建立烟颗粒的散射光的散射矩阵；根据所述散射矩阵建立烟颗粒的粒径参数的目标函数，利用所述散射矩阵和目标函数通过反演算法，获取所述目标函数的最优值，根据所述最优值得到所述烟颗粒的粒径分布。本发明实施例从完全反映颗粒的光散射特性的Mueller矩阵出发，结合全局搜索能力很强的模拟退火算法，实现了对火灾等烟颗粒的光散射球形模型下的粒径反演，从而可以有效地测量火灾等烟颗粒的粒径分布。 | ||
| 搜索关键词： | 测量 颗粒 粒径 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种测量烟颗粒的粒径的方法，其特征在于，包括：根据烟颗粒的散射光的直流分量和谐波分量建立烟颗粒的散射光的散射矩阵；根据所述散射矩阵建立烟颗粒的粒径参数的目标函数，利用所述散射矩阵和目标函数通过反演算法，获取所述目标函数的最优值，根据所述最优值得到所述烟颗粒的粒径分布。
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