[发明专利]低位错氮化镓的生长方法无效

专利信息
申请号: 201110332793.3 申请日: 2011-10-28
公开(公告)号: CN102409406A 公开(公告)日: 2012-04-11
发明(设计)人: 吴奎;魏同波;闫建昌;刘喆;王军喜;李晋闽 申请(专利权)人: 中国科学院半导体研究所
主分类号: C30B29/38 分类号: C30B29/38;C30B29/40;C30B25/18
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 汤保平
地址: 100083 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 一种低位错氮化镓的生长方法,包括如下步骤:步骤1:取一基板,该基板包括一衬底和制作在其上的氮化镓模板;步骤2:用腐蚀液腐蚀氮化镓模板的表面,在氮化镓模板的表面形成六角微坑;步骤3:在具有六角微坑的氮化镓模板的表面涂覆二氧化硅凝胶,将六角微坑覆盖,用甩胶机进行甩胶处理;步骤4:采用高温烧结使氮化镓模板上的二氧化硅凝胶固化;步骤5:用NaOH溶液处理,除去氮化镓模板11上微坑以外的二氧化硅凝胶;步骤6:再采用高温烧结,使六角微坑内的二氧化硅凝胶变成晶体;步骤7:在处理后的氮化镓模板上外延氮化镓材料,完成低位错氮化镓的生长。
搜索关键词: 低位 氮化 生长 方法
【主权项】:
一种低位错氮化镓的生长方法,包括如下步骤:步骤1:取一基板,该基板包括一衬底和制作在其上的氮化镓模板;步骤2:用腐蚀液腐蚀氮化镓模板的表面,在氮化镓模板的表面形成六角微坑;步骤3:在具有六角微坑的氮化镓模板的表面涂覆二氧化硅凝胶,将六角微坑覆盖,用甩胶机进行甩胶处理;步骤4:采用高温烧结使氮化镓模板上的二氧化硅凝胶固化;步骤5:用NaOH溶液处理,除去氮化镓模板11上微坑以外的二氧化硅凝胶;步骤6:再采用高温烧结,使六角微坑内的二氧化硅凝胶变成晶体;步骤7:在处理后的氮化镓模板上外延氮化镓材料,完成低位错氮化镓的生长。
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