[发明专利]根据干涉量度学原理的偏转测量设备有效
| 申请号： | 201110335606.7 | 申请日： | 2011-09-07 |
| 公开（公告）号： | CN102538662A | 公开（公告）日： | 2012-07-04 |
| 发明（设计）人： | H·基尔施 | 申请（专利权）人： | 克洛纳测量技术有限公司 |
| 主分类号： | G01B9/02 | 分类号： | G01B9/02 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 臧永杰;卢江 |
| 地址： | 德国杜*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 涉及根据干涉量度学原理的偏转测量设备，具有辐射源、实现第一光程的第一纤维光学装置、实现第二光程的第二纤维光学装置、偏转体和分析电路，其中第一纤维光学装置和第二纤维光学装置在输入侧可用辐射源的能干涉的辐射施加，其中至少第一纤维光学装置与偏转体连接，和在第一纤维光学装置中引导的第一分辐射和在第二纤维光学装置中引导的第二分辐射在输出侧汇合并且向分析电路输送干涉辐射和通过分析电路分析，其中第一纤维光学装置和第二纤维光学装置仅在偏转体处布置，第一纤维光学装置和/或第二纤维光学装置在输入侧用唯一的光学供给纤维与辐射源连接，第一纤维光学装置和/或第二纤维光学装置在输出侧用唯一的光学分析纤维与分析电路连接。 | ||
| 搜索关键词： | 根据 干涉 量度 原理 偏转 测量 设备 | ||
【主权项】：
根据干涉量度学原理的偏转测量设备(1)，具有辐射源(2)、实现第一光程的第一纤维光学装置(3)、实现第二光程的第二纤维光学装置(4)、偏转体(5)和分析电路(6)，其中第一纤维光学装置(3)和第二纤维光学装置(4)在输入侧可被施加辐射源(2)的能干涉的辐射，其中至少第一纤维光学装置(3)与偏转体(5)连接，并且其中在第一纤维光学装置(3)中引导的第一分辐射和在第二纤维光学装置(4)中引导的第二分辐射在输出侧汇合并且向分析电路(6)输送干涉辐射，并且通过分析电路(6)分析，其特征在于，第一纤维光学装置(3)和第二纤维光学装置(4)仅在偏转体(5)处布置，第一纤维光学装置(3)和/或第二纤维光学装置(4)在输入侧用唯一的光学供给纤维(9)与辐射源(2)连接，并且第一纤维光学装置(3)和/或第二纤维光学装置(4)在输出侧用唯一的光学分析纤维(10)与分析电路(6)连接。
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