[发明专利]γ射线检测系统以及正电子发射断层摄影系统有效
| 申请号： | 201110338812.3 | 申请日： | 2011-10-28 |
| 公开（公告）号： | CN102540239A | 公开（公告）日： | 2012-07-04 |
| 发明（设计）人： | 丹尼尔·加格农;王文莉 | 申请（专利权）人： | 株式会社东芝;东芝医疗系统株式会社 |
| 主分类号： | G01T1/29 | 分类号： | G01T1/29;A61B6/03 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 李伟;王轶 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明涉及γ射线检测系统以及正电子发射断层摄影系统，其中，γ射线检测系统具备多个具有相同长度的检测器模块(204)，各个检测器模块检测从正电子消失现象中产生的γ射线。多个检测器模块(204)的第1检测器模块从与第1检测器模块邻接的第2检测器模块向轴方向错开比检测器模块(204)的长度都短的规定间隔地安装。能够无需改变整体灵敏度，同时简易地扩大有效视野。 | ||
| 搜索关键词： | 射线 检测 系统 以及 正电子 发射 断层 摄影 | ||
【主权项】：
一种γ射线检测系统，具备多个具有相同长度的检测器模块，各检测器模块检测从正电子消失现象中产生的γ射线，该γ射线检测系统的特征在于：上述多个检测器模块的第1检测器模块被安装成：在轴方向与上述多个检测器模块中和上述第1检测器模块相邻接的第2检测器模块错开比上述检测器模块的长度短的规定间隔。
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