[发明专利]一种双面敷金属箔板有效介电常数的测量方法无效
申请号: | 201110339717.5 | 申请日: | 2011-11-01 |
公开(公告)号: | CN102426299A | 公开(公告)日: | 2012-04-25 |
发明(设计)人: | 谢永乐;侯照临;姜书艳 | 申请(专利权)人: | 电子科技大学 |
主分类号: | G01R27/26 | 分类号: | G01R27/26 |
代理公司: | 成都赛恩斯知识产权代理事务所(普通合伙) 51212 | 代理人: | 王璐瑶 |
地址: | 611731 四川省成*** | 国省代码: | 四川;51 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了一种双面敷金属箔板有效介电常数的测量方法。所述测量方法将被测板加工成带有一定微带线图案的印制板,而后对该印制板进行散射参量、或驻波比参数、或相位参数、或特征阻抗参数等电路响应数据的测量;通过电路响应数据与事先通过仿真获得的仿真数据进行比较,找到与电路响应数据相似程度最高的一组仿真数据,在仿真软件中与该组仿真数据对应的双面敷金属箔板有效介电常数就是最终获得的被测板有效介电常数。与现有技术相比,本发明能够利用射频/微波电路设计、调试过程中使用的基础设备及软件进行相关量测量,无需购买专门仪器,使用数据拟合方法就能获得双面敷金属箔板的有效介电常数,实践成本低、效率高、方便快捷。 | ||
搜索关键词: | 一种 双面 金属 有效 介电常数 测量方法 | ||
【主权项】:
一种双面敷金属箔板有效介电常数的测量方法,其特征在于:所述双面敷金属箔板有效介电常数的测量方法步骤如下:(1)选取一副微带线图案,在仿真软件中进行绘制;同时在仿真软件中,设置被测双面敷金属箔板的已知参数,定义信号输入口和信号输出口;所述被测双面敷金属箔板的已知参数包括双面敷金属箔板板厚、敷金属厚度、敷金属的电导率、敷金属的磁导率、敷金属的损耗角正切值、敷金属表面光滑程度和封装空间大小;(2)在所述仿真软件中设定至少一个双面敷金属箔板的有效介电常数进行仿真,获得与设定的双面敷金属箔板有效介电常数相对应的至少一组仿真数据;所述仿真数据为散射参量、或驻波比参数、或相位参数、或特征阻抗参数;(3)将被测双面敷金属箔板按照步骤(1)中选取的微带线图案加工成为印制板;(4)对步骤(3)中加工获得的印制板进行测量,获取电路响应数据;所述电路响应数据为散射参量、或驻波比参数、或相位参数、或特征阻抗参数;(5)使用拟合算法,将步骤(4)中获取的电路响应数据与步骤(2)中获得的仿真数据进行拟合运算,找出与步骤(4)中获取的电路响应数据相似程度最高的一组仿真数据;所述被找出的一组仿真数据所对应的双面敷金属箔板有效介电常数即为被测双面敷金属箔板的有效介电常数。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于电子科技大学,未经电子科技大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201110339717.5/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种具有秸秆粉碎功能的收割机
- 下一篇:定位元件及其定位机构