[发明专利]基于双频改正法估计电离层总电子含量的方法有效
申请号: | 201110346347.8 | 申请日: | 2011-11-04 |
公开(公告)号: | CN102508211A | 公开(公告)日: | 2012-06-20 |
发明(设计)人: | 苏洪涛;刘宏伟;何网 | 申请(专利权)人: | 西安电子科技大学 |
主分类号: | G01S7/295 | 分类号: | G01S7/295;G01R29/24 |
代理公司: | 陕西电子工业专利中心 61205 | 代理人: | 王品华;朱红星 |
地址: | 710071*** | 国省代码: | 陕西;61 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提出了一种基于双频改正法估计电离层总电子含量的方法,主要解决了现有方法估计电离层总电子含量精度低、多次迭代估计、运算量大的问题。其实现过程是:首先对雷达接收到的数据进行滤波,滤出带宽相同的下边带信号和上边带信号;再分别对上边带信号和下边带信号进行零内插处理;然后分别对零内插后的上边带信号和下边带信号进行脉冲压缩,上边带信号和下边带信号的载频不同,经过电离层后上边带信号与下边带信号的脉压时延不同,根据两个脉压的时延差估计电离层总电子含量。本发明具有估计电离层总电子含量精度高、迭代估计次数少和运算量小的优点,可用于天基雷达系统、卫星通信等以减少电离层的影响。 | ||
搜索关键词: | 基于 双频 正法 估计 电离层 电子 含量 方法 | ||
【主权项】:
一种基于双频改正法估计电离层总电子含量的方法,包括如下步骤:(A)对雷达接收到的带宽为B1的数据x(n)进行滤波,滤出带宽都为B的下边带信号x1(n)和上边带信号x2(n),其中x1(n)和x2(n)的脉冲宽度均为tp,采样频率均为fs,长度均为N,载频频率分别为f1和f2;(B)对滤出的两个边带信号x1(n)和x2(n)分别进行系数为L的零内插,得到内插后的信号分别为s1(n)和s2(n),其中s1(n)、s2(n)的载频频率分别为f1和f2,采样频率均为fLS=L·fs;(C)将内插后的信号s1(n)、s2(n)分别进行脉冲压缩,得到脉压结果y1(n)和y2(n),其中y1(n)、y2(n)载频频率分别为f1和f2;(D)计算脉压y1(n)与y2(n)的时延差Δτ: Δτ = 2 b c ( 2 π ) 2 · ( 1 f 1 2 - 1 f 2 2 ) · N t - - - ( 1 ) 式中,b=1.591×103m3/s2,c为真空中的光速,f1为脉压y1(n)的载频频率,f2为脉压y2(n)的载频频率,Nt为理论电离层总电子含量;(E)利用y1(n)与y2(n)的时延差Δτ,根据公式(2)估计电离层总电子含量; N t _ estimate = 2 π 2 b · f 1 2 f 2 2 f 2 2 - f 1 2 · c · Δτ - - - ( 2 ) 式中,Nt_estimate是估计的电离层总电子含量,b=1.591×103m3/s2,f1为脉压y1(n)的载频频率,f2为脉压y2(n)的载频频率,c为真空中的光速;(F)根据时延差Δτ与1/fLS的大小,判断双频改正法估计电离层总电子含量是否结束;如果时延差Δτ<=1/fLS,整个估计电离层总电子含量的流程结束;如果时延差 Δτ>1/fLS,重复步骤(A)~(D),再次迭代估计电离层总电子含量,直到满足时延差Δτ<=1/fLS。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西安电子科技大学,未经西安电子科技大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201110346347.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种用于对微网储能系统进行优化控制的方法及系统
- 下一篇:电热空气流熏显装置