[发明专利]元器件分类检测法有效
| 申请号： | 201110362461.X | 申请日： | 2011-11-15 |
| 公开（公告）号： | CN102495302A | 公开（公告）日： | 2012-06-13 |
| 发明（设计）人： | 李强;吴东;金历群 | 申请（专利权）人： | 上海卫星工程研究所 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 中国和平利用军工技术协会专利中心 11215 | 代理人： | 容敦璋 |
| 地址： | 200240 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： |
本发明公开了一种元器件分类检测法，包括：对元器件的辐照测试数据进行统计分析，得到耐量的几何平均值 |
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| 搜索关键词： | 元器件 分类 检测 | ||
【主权项】：
1.一种元器件分类检测法，包括：步骤1)、利用辐照测试装置得到元器件的辐照测试数据，对这些辐照测试数据进行统计分析，得到耐量的几何平均值![]()
和对数标准方差SlnD；步骤2)、根据所述耐量的几何平均值计算出RDM值：RDM = D ~ / D 0 ; PCC = = e KS ln D ;
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