[发明专利]基于阻变栅介质的1.5T动态存储单元、阵列以及其操作方法有效
申请号: | 201110372160.5 | 申请日: | 2011-11-21 |
公开(公告)号: | CN103123804A | 公开(公告)日: | 2013-05-29 |
发明(设计)人: | 林殷茵;李慧 | 申请(专利权)人: | 复旦大学 |
主分类号: | G11C11/406 | 分类号: | G11C11/406;H01L27/108 |
代理公司: | 上海元一成知识产权代理事务所(普通合伙) 31268 | 代理人: | 吴桂琴 |
地址: | 200433 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明涉及存储器技术领域,涉及一种基于阻变栅介质的1.5T动态存储单元、阵列结构,及其操作方法。本发明包括:晶体管,包括源极、漏极和控制栅极;存储节点,即所述晶体管控制栅极的栅介质,位于晶体管控制栅极和硅衬底之间,存储电阻变化;字线,连接到所述晶体管的控制栅极;位线连接到所述晶体管的漏极;源线连接到所述晶体管的源极;其中,读管201起到选通、限流的作用,202为编程部件,203为位线,204为201的字线,205为编程字线。栅极具有高阻、低阻不同状态,之间转变可逆,在位线和字线间施加一定电压,会有不同大小的电流。本发明解决了传统的1T1C DRAM单元的困难以及与标准CMOS工艺兼容性较差的问题,可以与标准逻辑的CMOS HfOx high k metal gate技术兼容。 | ||
搜索关键词: | 基于 阻变栅 介质 1.5 动态 存储 单元 阵列 及其 操作方法 | ||
【主权项】:
一种基于阻变栅介质的1.5T动态存储单元、阵列,包括:晶体管,包括源极、漏极和控制栅极;存储节点,即所述晶体管控制栅极的栅介质,位于晶体管控制栅极和硅衬底之间,存储电阻变化;字线,连接到所述晶体管的控制栅极;位线,连接到所述晶体管的漏极;源线,连接到所述晶体管的源极;其特征在于,所述的存储单元中,包括读管(201),起到选通、限流的作用,编程部件(202),位线(203),(204)代表(201)的字线,即读字线,(205)代表编程字线,栅极(206)使用具有阻变特性材料,如HfOx。
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