[发明专利]折叠式电子设备及其开闭模式检测方法无效
申请号: | 201110374088.X | 申请日: | 2011-11-22 |
公开(公告)号: | CN103139355A | 公开(公告)日: | 2013-06-05 |
发明(设计)人: | 刘一农 | 申请(专利权)人: | 索尼爱立信移动通讯有限公司 |
主分类号: | H04M1/725 | 分类号: | H04M1/725;G06F3/044 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 樊一槿 |
地址: | 瑞典*** | 国省代码: | 瑞典;SE |
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摘要: | 本发明实施例提供一种折叠式电子设备及其开闭模式检测方法,所述折叠式电子设备包括机身和机盖,所述机身上设置有键盘,所述机盖上设置有电容触摸屏,其中,所述机身上设置有多个金属检测点;与所述电容触摸屏连接的传感器根据感应到的所述多个金属检测点与所述机盖之间因电容效应产生的电容值的变化,确定所述折叠式电子设备的开闭模式。本发明实施例通过在折叠式电子设备的键盘或者物理结构上预定义多个金属检测点,来利用与电容触摸屏连接的传感器检测该折叠式电子设备的开闭模式,节约了具有电容触摸屏的折叠式电子设备的制造成本,降低了操作复杂度。 | ||
搜索关键词: | 折叠式 电子设备 及其 开闭 模式 检测 方法 | ||
【主权项】:
一种折叠式电子设备,所述折叠式电子设备包括机身和机盖,所述机身上设置有键盘,所述机盖上设置有电容触摸屏,其中,所述机身上设置有多个金属检测点;与所述机盖上的电容触摸屏连接的传感器根据感应到的所述多个金属检测点与所述电容触摸屏之间因电容效应产生的电容值的变化,确定所述折叠式电子设备的开闭模式。
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