[发明专利]用于测试射频集成电路的系统和方法有效
| 申请号： | 201110375535.3 | 申请日： | 2011-11-23 |
| 公开（公告）号： | CN102540052A | 公开（公告）日： | 2012-07-04 |
| 发明（设计）人： | J-P.福斯特纳 | 申请（专利权）人： | 英飞凌科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 王岳;蒋骏 |
| 地址： | 德国瑙伊比*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 本发明涉及用于测试射频集成电路的系统和方法。在实施例中，一种测试射频集成电路（RFIC）的方法包括：使用片上测试电路来生成高频测试信号；使用片上功率检测器来测量信号电平；并且使用低频信号来控制和监视片上测试电路。RFIC电路配置成在高频操作，并且片上测试电路包括配置成在测试模式期间操作的频率生成电路。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 测试 射频 集成电路 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种测试射频集成电路（RFIC）电路的方法，所述RFIC电路包括：RF电路，配置成在高频操作；和片上测试电路，包括配置成在测试模式期间操作的频率生成电路，所述方法包括：使用所述片上测试电路来生成高频测试信号；使用片上功率检测器来测量信号电平；并且使用低频信号来控制和监视所述片上测试电路。
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