[发明专利]一种金属薄膜镀层结合质量检测方法有效
| 申请号： | 201110378711.9 | 申请日： | 2011-11-24 |
| 公开（公告）号： | CN102507355A | 公开（公告）日： | 2012-06-20 |
| 发明（设计）人： | 郑镇嵘;宋好强;李二勇 | 申请（专利权）人： | 中兴通讯股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N3/42 | 分类号： | G01N3/42 |
| 代理公司： | 深圳市爱派知识产权事务所 44292 | 代理人： | 冯艳民 |
| 地址： | 518057 广东省深圳市南山*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明涉及金属镀膜技术，提供了一种金属薄膜镀层结合质量的检测方法，包括，使用维氏硬度计对待测试样品进行压痕加载；将观察到的压痕点的镀层形貌与参考图谱进行比对，评定镀层结合质量级别。采用本发明的技术方案，对尺寸的限制小，能适合薄材和小尺寸样品镀层结合质量的研判，也能进行大尺寸样品的测试；使用维氏压头对样品进行加载，可使用维氏硬度计测试，能实现近似无损测试，不影响产品整体外观；使用维氏硬度计进行压痕测试，可以精确控制加载载荷的大小、加载速度、载荷保持时间，受测试条件的影响小，测试的重复好；最后，该方案可直接用标准的微显微硬度维氏硬度计实现测试，操作简便快捷，不需要使用专门仪器，经济实用，通用性好。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 金属 薄膜 镀层 结合 质量 检测 方法 | ||
【主权项】：
一种金属薄膜镀层结合质量的检测方法，其特征在于，包括，使用维氏硬度计对待测试样品进行压痕加载；将观察到的压痕点的镀层形貌与参考图谱进行比对，评定镀层结合质量级别。
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