[发明专利]一种用于Ku和K波段范围的相位噪声能力验证比对装置无效
申请号: | 201110379552.4 | 申请日: | 2011-11-25 |
公开(公告)号: | CN102419398A | 公开(公告)日: | 2012-04-18 |
发明(设计)人: | 阎栋梁;王学运;杨军;韩红;柳丹 | 申请(专利权)人: | 中国航天科工集团第二研究院二〇三所 |
主分类号: | G01R25/00 | 分类号: | G01R25/00;G01R23/16;H03L7/085 |
代理公司: | 中国航天科工集团公司专利中心 11024 | 代理人: | 岳洁菱 |
地址: | 100854 北京市海*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开了一种用于Ku和K波段范围的相位噪声能力验证比对装置,包括:高稳晶振源A(1)、高稳晶振源B(13)、相位噪声测量装置(12),还包括:倍频器A(2)、锁相环路A(3)、低噪声压控振荡器A(4)、隔离放大器A(5)、倍频器B(6)、梳状谱发生器A(7)、YIG调谐滤波器A(8)、PIN开关组合A(9)、功率放大器组合A(10)、微波源A(11)。通过在相位噪声测量的能力验证活动中应用这种比对装置,并利用其结果,可以客观地验证和评价实验室的相位噪声计量测试的技术能力,这对保证相位噪声测量结果的质量,提高其置信度,验证及监控实验室的持续能力,具有重要的现实意义。 | ||
搜索关键词: | 一种 用于 ku 波段 范围 相位 噪声 能力 验证 装置 | ||
【主权项】:
一种用于Ku和K波段范围的相位噪声能力验证比对装置,包括:高稳晶振源A(1)、高稳晶振源B(13)、相位噪声测量装置(12),其特征在于还包括:倍频器A(2)、锁相环路A(3)、低噪声压控振荡器A(4)、隔离放大器A(5)、倍频器B(6)、梳状谱发生器A(7)、YIG调谐滤波器A(8)、PIN开关组合A(9)、功率放大器组合A(10)、微波源A(11)、倍频器C(14)、锁相环路B(15)、低噪声压控振荡器B(16)、隔离放大器B(17)、倍频器D(18)、梳状谱发生器B(19)、YIG调谐滤波器B(20)、PIN开关组合B(21)、功率放大器组合B(22)、微波源B(23);高稳晶振源A(1)的压控输入端与相位噪声测量装置(12)的压控输出端射频电缆连接,高稳晶振源A(1)的输出端与倍频器A(2)的输入端射频电缆连接,倍频器A(2)的输出端与锁相环路A(3)的本振端射频电缆连接,低噪声压控振荡器A(4)的输出端与隔离放大器A(5)的输入端射频电缆连接,隔离放大器A(5)的锁相端与锁相环路A(3)的射频端射频电缆连接,锁相环路A(3)的压控输出端与低噪声压控振荡器A(4)的压控输入端射频电缆连接,隔离放大器A(5)的倍频端与倍频器B(6)的输入端射频电缆连接,倍频器B(6)的输出端与梳状谱发生器A(7)的输入端射频电缆连接,梳状谱发生器A(7)的输出端与YIG调谐滤波器A(8)的输入端微波电缆连接,YIG调谐滤波器A(8)的输出端与PIN开关组合A(9)的输入端微波电缆连接,PIN开关组合A(9)的输出端与功率放大器组合A(10)的输入端微波电缆连接,功率放大器组合A(10)的输出端与微波源A(11)的输入端微波电缆连接,微波源A(11)的输出端与相位噪声测量装置(12)的本振端微波电缆连接;高稳晶振源B(13)的输出端与倍频器C(14)的输入端射频电缆连接,倍频器C(14)的输出端与锁相环路B(15)的本振端射频电缆连接,低噪声压控振荡器B(16)的输出端与隔离放大器B(17)的输入端射频电缆连接,隔离放大器B(17)的锁相端与锁相环路B(15)的射频端射频电缆连接,锁相环路B(15)的压控输出端与低噪声压控振荡器B(16)的压控输入端射频电缆连接,隔离放大器B(17)的倍频端与倍频器D(18)的输入端射频电缆连接,低噪声压控振荡器B(16)输出端与隔离放大器B(17)输入端射频电缆连接,倍频器D(18)的输出端与梳状谱发生器B(19)的输入端射频电缆连接,梳状谱发生器B(19)的输出端与YIG调谐滤波器B(20)的输入端微波电缆连接,YIG调谐滤波器B(20)的输出端与PIN开关组合B(21)的输入端微波电缆连接,PIN开关组合B(21)的输出端与功率放大器组合B(22)的输入端微波电缆连接,功率放大器组合B(22)的输出端与微波源B(23)的输入端微波电缆连接,微波源B(23)的输出端与相位噪声测量装置(12)的射频端微波电缆连接;工作时,当校准相位噪声测量系统Ku和K波段频率范围的性能指标时,用比对装置中频率为13GHz、18GHz、22GHz、26GHz的四个点频微波源输出;倍频器A(2)将高稳晶振源A(1)的10MHz频率输出倍频到100MHz;频率为100MHz的低噪声压控振荡器A(4)通过隔离放大器A(5)进行放大隔离,分配为两路输出;其中锁相端输出与经过倍频得到的100MHz的频率信号,在锁相环路A(3)的压控输出端与低噪声压控振荡器A(4)的压控输入端连通形成环路的情况下,锁相环路A(3)将低噪声压控振荡器A(4)锁定在高稳晶振源A(1)的相位输出上;隔离放大器A(5)的倍频端输出信号通过倍频器B(6)将输入的100MHz频率倍频到1GHz,然后通过梳状谱发生器A(7)产生梳状谱序列;在调谐电压的控制下,YIG调谐滤波器A(8)对梳状谱序列进行所需梳状谱线的提取,并对其它频率的梳状谱线进行抑制,所需梳状谱线频率为13GHz、18GHz、22GHz、26GHz;YIG调谐滤波器A(8)通过选频得到所需的频率谱线,PIN开关组合A(9)根据频率谱线的频段选择功率放大器A,功率放大器A对频率谱线进行放大;控制电压根据梳状谱线的频率对PIN开关组合A(9)以及功率放大器A进行选择,得到放大的梳状谱线由微波源A(11)进行输出;倍频器C(14)将高稳晶振源B(13)的10MHz频率输出倍频到100MHz;频率为100MHz的低噪声压控振荡器B(16)通过隔离放大器B(17)进行放大隔离,分配为两路输出;其中锁相端输出与经过倍频得到的100MHz的频率信号,在锁相环路B(15)的压控输出端与低噪声压控振荡器B(16)的压控输入端连通形成环路的情况下,锁相环路B(15)将低噪声压控振荡器B(16)锁定在高稳晶振源B(13)的相位输出上;隔离放大器B(17)的倍频端输出信号通过倍频器D(18)将输入的100MHz频率倍频到1GHz,然后通过梳状谱发生器B(19)产生梳状谱序列;在调谐电压的控制下,YIG调谐滤波器B(20)对梳状谱序列进行所需梳状谱线的提取,并对其它频率的梳状谱线进行抑制,所需梳状谱线频率为13GHz、18GHz、22GHz、26GHz;YIG调谐滤波器B(20)输出的频率谱线通过PIN开关组合B(21)控制的功率放大器B进行适当的功率放大;控制电压根据梳状谱线的频率对PIN开关组合B(21)以及功率放大器B进行选择,得到放大的梳状谱线由微波源B(23)进行输出。
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