[发明专利]一种NVM内建自测电路的仿真测试系统有效

专利信息
申请号: 201110388391.5 申请日: 2011-11-29
公开(公告)号: CN103137211A 公开(公告)日: 2013-06-05
发明(设计)人: 雷冬梅;赵锋;张爱东 申请(专利权)人: 上海华虹NEC电子有限公司
主分类号: G11C29/12 分类号: G11C29/12
代理公司: 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 代理人: 丁纪铁
地址: 201206 上*** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开了一种NVM内建自测电路的仿真测试系统,包括有测试主机;多个模拟模块、NVM芯片电路、NVM内建自测电路、自动检测模块。所述自动检测模块具体包括接口信号检测模块、系统状态检测模块、指令执行时序检测模块、测试完整性检测模块、数据输出模块以及测试向量输出模块。通过本发明的仿真测试系统,可以大大减少对NVM内建自测电路进行检测的工作量,并保证了测试的完整性。
搜索关键词: 一种 nvm 自测 电路 仿真 测试 系统
【主权项】:
一种NVM内建自测电路的仿真测试系统,其特征是,包括有测试主机;多个模拟模块、NVM芯片电路、NVM内建自测电路、自动检测模块;所述NVM内建自测电路与测试主机、各个模拟模块、NVM芯片电路相连接;所述自动检测模块与测试主机、各个模拟模块、NVM芯片电路、NVM内建自测电路相连接;所述自动检测模块具体包括:对NVM内建自测电路的接口信号连接的准确性、以及NVM内建自测电路所接收指令的准确性进行检测的接口信号检测模块;对系统状态及各状态下的信号进行检测的系统状态检测模块;对NVM内建自测电路所接收指令的时序、并对各模拟模块和NVM内建自测电路的接口信号的时序进行检测的指令执行时序检测模块;对测试向量进行统计、并对测试向量的完整性进行检测的测试完整性检测模块;输出指令信息、指令执行时序信息、指令执行数据信息、错误信息、错误原因的数据输出模块;以及对NVM内建自测电路所接收指令输出为测试向量的测试向量输出模块。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海华虹NEC电子有限公司,未经上海华虹NEC电子有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201110388391.5/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top