[发明专利]基于硅光电倍增器的环境X、γ辐射测量方法及测量装置无效
| 申请号： | 201110391344.6 | 申请日： | 2011-11-30 |
| 公开（公告）号： | CN103135123A | 公开（公告）日： | 2013-06-05 |
| 发明（设计）人： | 靳根;陈法国;刘倍;徐园;王希涛;杨亚鹏 | 申请（专利权）人： | 中国辐射防护研究院 |
| 主分类号： | G01T1/208 | 分类号： | G01T1/208 |
| 代理公司： | 北京天悦专利代理事务所(普通合伙) 11311 | 代理人： | 田明;任晓航 |
| 地址： | 030006 *** | 国省代码： | 山西;14 |
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| 摘要： | 本发明涉及辐射测量技术，具体涉及一种基于硅光电倍增器的环境X、γ辐射测量方法及测量装置。该装置用硅光电倍增器代替传统的真空型光电倍增管，实现以闪烁晶体为探测器的环境X、γ辐射剂量仪表的设计，利用硅光电倍增器体积小、工作电压低、响应时间短、对磁场不敏感等特点，将其作为闪烁体探测器的光电转换和信号放大部件，从而进一步实现便携式环境X、γ剂量仪的小型化。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 光电 倍增器 环境 辐射 测量方法 测量 装置 | ||
【主权项】：
一种基于硅光电倍增器的环境X、γ辐射测量方法，包括如下步骤：(S1)环境中的X射线或γ射线照射闪烁晶体，使闪烁晶体发出可见光；(S2)可见光照射到硅光电倍增器上，经硅光电倍增器的雪崩二极管阵列的光电转换，产生与可见光强度成正比的电信号；(S3)电信号经放大后输出给信号和数据处理单元，进行X射线或γ射线的剂量换算，得到辐射剂量值。
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