[发明专利]一种过滤X射线参考辐射的能谱分析方法无效
| 申请号： | 201110393393.3 | 申请日： | 2011-12-01 |
| 公开（公告）号： | CN103135125A | 公开（公告）日： | 2013-06-05 |
| 发明（设计）人： | 牛强;张庆利;金成赫;韦应靖;黄亚雯 | 申请（专利权）人： | 中国辐射防护研究院 |
| 主分类号： | G01T1/36 | 分类号： | G01T1/36 |
| 代理公司： | 北京天悦专利代理事务所(普通合伙) 11311 | 代理人： | 田明;任晓航 |
| 地址： | 030006 *** | 国省代码： | 山西;14 |
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| 摘要： | 本发明属于电离辐射计量技术，具体涉及一种过滤X射线参考辐射的能谱分析方法。本发明用HPGe能谱仪测量低空气比释动能率和窄谱两个系列的过滤X射线参考辐射，探索出使用反卷能谱法对测量谱进行了能谱分析的方法，得到了参考辐射场的注量谱和各特征值，并与国标中给出的参考谱和各特征值的推荐值进行了比较，两者符合的较好，验证了已建立的X射线参考辐射的准确性和可靠性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 过滤 射线 参考 辐射 谱分析 方法 | ||
【主权项】：
一种过滤X射线参考辐射的能谱分析方法，包括如下步骤：(1)建立由探测器、数字化谱仪、计算机组成的能谱测量系统，并对能谱测量系统进行能量刻度，测量得到过滤X射线的测量谱；(2)用蒙特卡罗模拟和数学插值的方法确定能谱测量系统的响应矩阵；(3)对测量得到的测量谱进行剥谱法和反卷能谱法分析，得到了过滤X射线的注量谱，并与理论计算谱进行比较。
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