[发明专利]取向膜修复系统无效
| 申请号： | 201110399191.X | 申请日： | 2011-12-05 |
| 公开（公告）号： | CN102402074A | 公开（公告）日： | 2012-04-04 |
| 发明（设计）人： | 宋玉 | 申请（专利权）人： | 深圳市华星光电技术有限公司 |
| 主分类号： | G02F1/1337 | 分类号： | G02F1/1337 |
| 代理公司： | 广东国欣律师事务所 44221 | 代理人： | 李文 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市光明新区公*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 一种取向膜修复系统，包括：一检查装置，包含一电荷耦合元件及一缺陷位置检测电路，电荷耦合元件检测在TFT/CF基板上的一取向膜的一缺陷位置，缺陷位置检测电路则记录对应缺陷位置的一位置坐标信号；一取向膜缺陷去除装置，根据位置坐标信号，去除在TFT/CF基板上的缺陷位置上的缺陷，以形成一针孔；以及一取向膜修复剂涂布装置，根据位置坐标信号，将一取向膜修复剂涂布在针孔上，对针孔进行修复。 | ||
| 搜索关键词： | 取向 修复 系统 | ||
【主权项】：
一种取向膜修复系统，其特征在于，包括：一检查装置，包括一电荷耦合元件及一缺陷位置检测电路，该电荷耦合元件检测在TFT/CF基板上的一取向膜的一缺陷位置，该缺陷位置检测电路则记录对应该缺陷位置的一位置坐标信号；一取向膜缺陷去除装置，根据该位置坐标信号，去除在TFT/CF基板上的该缺陷位置上的缺陷，以形成一针孔；以及一取向膜修复剂涂布装置，根据该位置坐标信号，将一取向膜修复剂涂布在该针孔上，对该针孔进行修复。
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