[发明专利]一种干法筛分物料及平均粒径测量的方法及筛分装置有效
| 申请号： | 201110404857.6 | 申请日： | 2011-12-08 |
| 公开（公告）号： | CN102441526A | 公开（公告）日： | 2012-05-09 |
| 发明（设计）人： | 杨有余;莫建松;盛海强;程常杰 | 申请（专利权）人： | 浙江天蓝环保技术股份有限公司 |
| 主分类号： | B07B1/28 | 分类号： | B07B1/28;B07B1/46;G01N15/02;G01N5/00 |
| 代理公司： | 杭州天勤知识产权代理有限公司 33224 | 代理人： | 胡红娟 |
| 地址： | 311202 浙*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种干法筛分石膏及其平均粒径测量方法，步骤包括：准确称取干燥后的脱硫石膏于标准筛顶层筛面，盖上顶盖于50～55℃条件下预热40～50min后，置于振筛机上筛分5～10min；筛分结束后，将标准筛及石膏再次预热40～50min，振筛5～10min；准确称量各层筛面石膏颗粒质量，计算石膏平均粒径。本发明还公开了用于上述方法的筛分装置。本发明所述方法和装置具有简单、实用性强、快速准确等特点，同时也适应于其他易受潮，粒径在1～100μm物料的筛分及平均粒径测量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 筛分 物料 平均 粒径 测量 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种干法筛分石膏及平均粒径测量的方法，其特征在于，包括以下步骤：(1)轻压、捏碎石膏中结块颗粒，于45～55℃条件下恒温10～15h；(2)将石膏干燥冷却至室温后，称量35～45g石膏于筛分装置的顶层筛面，将筛分装置及称量好的石膏置于50～55℃条件下预热40～50min，一次筛分5～10min。(3)筛分结束后将筛分装置和石膏置于50～55℃条件下再次预热40～50min，二次筛分5～10min；(4)二次筛分结束后，将各层筛面石膏颗粒收集、称量获得各层筛面石膏质量，用调和平均粒径计算公式计算石膏平均粒径。
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