[发明专利]谱线漂移参与回归运算法修正差分吸收光谱测量中光谱漂移的方法无效

专利信息
申请号: 201110405158.3 申请日: 2011-12-08
公开(公告)号: CN102519892A 公开(公告)日: 2012-06-27
发明(设计)人: 朱坚磊;邵乐骥;徐雷;陈科;龚真;项震 申请(专利权)人: 杭州微兰科技有限公司
主分类号: G01N21/31 分类号: G01N21/31
代理公司: 杭州丰禾专利事务所有限公司 33214 代理人: 王从友
地址: 310023 浙江省杭*** 国省代码: 浙江;33
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明涉及一种气体组分的测定方法,尤其涉及采用DOAS测量气体组分中差分吸收光谱测量中的光谱漂移修正方法。本发明将信号谱的偏移作为系统的固有吸收结构来看,则在做最小二乘多元线性回归计算污染物含量时,将该结构作为“污染物”的吸收截面参与计算,则同样可以将特定的灯谱在固定的偏移量上造成的吸收信号畸变影响扣除,从而得到正确的污染物浓度含量。采用该方法处理后,谱线偏移对吸收谱的影响显著降低,对最终DOAS计算的拟合结果的影响也基本消除。
搜索关键词: 漂移 参与 回归 运算 修正 吸收光谱 测量 光谱 方法
【主权项】:
谱线漂移参与回归运算法修正差分吸收光谱测量中光谱漂移的方法,其特征在于该方法将谱线偏移带来的吸收结构作为一种污染物的吸收截面,参与多元最小二乘线性回归计算: 1 x 1 ( λ 1 ) x 2 ( λ 1 ) L L L 1 x 1 ( λ m ) x 2 ( λ m ) u 0 u 1 u 2 = y ( λ 1 ) L y ( λ m ) 其中x1(λ)为待测污染物的标准吸收截面,x2(λ)为谱线偏移所产生的吸收结构;y(λ)为实测信号谱,解该矩阵,则所得到的u0为整个光学系统的衰减量,u1为待测污染物的单位体积分子数,而u2则代表了谱线偏移所产生的影响大小。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于杭州微兰科技有限公司,未经杭州微兰科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201110405158.3/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top