[发明专利]谱线漂移参与回归运算法修正差分吸收光谱测量中光谱漂移的方法无效
申请号: | 201110405158.3 | 申请日: | 2011-12-08 |
公开(公告)号: | CN102519892A | 公开(公告)日: | 2012-06-27 |
发明(设计)人: | 朱坚磊;邵乐骥;徐雷;陈科;龚真;项震 | 申请(专利权)人: | 杭州微兰科技有限公司 |
主分类号: | G01N21/31 | 分类号: | G01N21/31 |
代理公司: | 杭州丰禾专利事务所有限公司 33214 | 代理人: | 王从友 |
地址: | 310023 浙江省杭*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | 本发明涉及一种气体组分的测定方法,尤其涉及采用DOAS测量气体组分中差分吸收光谱测量中的光谱漂移修正方法。本发明将信号谱的偏移作为系统的固有吸收结构来看,则在做最小二乘多元线性回归计算污染物含量时,将该结构作为“污染物”的吸收截面参与计算,则同样可以将特定的灯谱在固定的偏移量上造成的吸收信号畸变影响扣除,从而得到正确的污染物浓度含量。采用该方法处理后,谱线偏移对吸收谱的影响显著降低,对最终DOAS计算的拟合结果的影响也基本消除。 | ||
搜索关键词: | 漂移 参与 回归 运算 修正 吸收光谱 测量 光谱 方法 | ||
【主权项】:
谱线漂移参与回归运算法修正差分吸收光谱测量中光谱漂移的方法,其特征在于该方法将谱线偏移带来的吸收结构作为一种污染物的吸收截面,参与多元最小二乘线性回归计算: 1 x 1 ( λ 1 ) x 2 ( λ 1 ) L L L 1 x 1 ( λ m ) x 2 ( λ m ) u 0 u 1 u 2 = y ( λ 1 ) L y ( λ m ) 其中x1(λ)为待测污染物的标准吸收截面,x2(λ)为谱线偏移所产生的吸收结构;y(λ)为实测信号谱,解该矩阵,则所得到的u0为整个光学系统的衰减量,u1为待测污染物的单位体积分子数,而u2则代表了谱线偏移所产生的影响大小。
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