[发明专利]鳍式场效应晶体管及其制作方法有效

专利信息
申请号: 201110406764.7 申请日: 2011-12-08
公开(公告)号: CN103165447A 公开(公告)日: 2013-06-19
发明(设计)人: 张海洋;韩秋华 申请(专利权)人: 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
主分类号: H01L21/336 分类号: H01L21/336;H01L21/28;H01L29/78;H01L29/423
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 骆苏华
地址: 201203 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供一种鳍式场效应晶体管及其制作方法,该方法包括:在半导体衬底上形成鳍;在形成有鳍的半导体衬底上形成虚拟栅极,其横跨过鳍;在虚拟栅极的两侧形成第一侧墙,对鳍进行离子注入,以形成鳍式场效应晶体管的源极、漏极;去除虚拟栅极,在虚拟栅极的所在位置形成开口,依次沉积高K栅介质层、金属栅极材料层以填充开口,形成金属栅极;依次去除第一侧墙及金属栅极侧壁上的高K栅介质层。本发明的鳍式场效应晶体管中金属栅极两侧的高K栅介质层被有效清除,避免了金属栅极与源极/漏极之间产生寄生电容,且在清除的过程中不会对其它半导体结构造成损害,使形成的鳍式场效应晶体管具有良好的电学性能。
搜索关键词: 场效应 晶体管 及其 制作方法
【主权项】:
一种鳍式场效应晶体管的制作方法,其特征在于,所述制作方法包括以下步骤:提供半导体衬底,在所述半导体衬底上形成鳍,所述鳍沿着平行于半导体衬底表面的第一方向延伸;在所述形成有鳍的半导体衬底上形成虚拟栅极,所述虚拟栅极沿着平行于半导体衬底表面的第二方向延伸,并横跨过所述鳍;在所述虚拟栅极的两侧形成第一侧墙,对鳍进行离子注入,以形成所述鳍式场效应晶体管的源极、漏极;去除所述虚拟栅极,在所述虚拟栅极的所在位置形成开口,依次沉积高K栅介质层、金属栅极材料层以填充所述开口,形成金属栅极;依次去除所述第一侧墙,及金属栅极侧壁上的高K栅介质层。
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