[发明专利]一种相变随机存储器阵列的制备方法有效

专利信息
申请号: 201110407852.9 申请日: 2011-12-09
公开(公告)号: CN102522500A 公开(公告)日: 2012-06-27
发明(设计)人: 缪向水;周娇;周文利 申请(专利权)人: 华中科技大学
主分类号: H01L45/00 分类号: H01L45/00
代理公司: 华中科技大学专利中心 42201 代理人: 曹葆青
地址: 430074 湖北*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明属于微纳电子学技术领域,涉及一种简单易行的相变存储器阵列的制备方法,相变随机存储器阵列的每一层均依次经过清洗、匀胶、烘烤、光刻、镀膜和剥离制备获得。相变随机存储器阵列依次包括下电极层、相变层和上电极层;在下电极层与相变层之间,以及相变层和上电极层之间均可以包括绝缘层。本发明只涉及纳米加工技术和薄膜制备方法,器件结构简单,制备方法容易实施,与CMOS制造工艺兼容性好,并且可以实现大容量存储阵列的制备。
搜索关键词: 一种 相变 随机 存储器 阵列 制备 方法
【主权项】:
一种相变随机存储器阵列的制备方法,其特征在于,相变随机存储器阵列的每一层均依次经过清洗、匀胶、烘烤、光刻、镀膜和剥离制备获得。
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